| 大会名称 |
|---|
| 2018年 情報科学技術フォーラム(FIT) |
| 大会コ－ド |
| F |
| 開催年 |
| 2018 |
| 発行日 |
| 2018-09-12 |
| セッション番号 |
| 6c |
| セッション名 |
| システムとLSIの設計技術 |
| 講演日 |
| 2018/09/21 |
| 講演場所(会議室等) |
| C棟C34 |
| 講演番号 |
| IC-002 |
| タイトル |
| Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption |
| 著者名 |
| 章 御聡, Stefan Holst, 宮瀬紘平, 温 暁青, 梶原誠司, 銭 軍, |
| キーワード |
| LSI Test |
| 抄録 |
| スキャンテストのシフトモードにおいて多くのスキャンフリップ・フロップが同時に動作する。このシフトにおける瞬時スイッチング動作は、 過度のIRドロップを引き起こし、一部のフリップ・フロップにおいてテスト入力やテスト応答のデータを破損させる危険性がある。その対策として、スキャンフリップ・フロップを複数のスキャンチェーンに組み込み、同時に一部のスキャンチェーンしか動作させない方式がよく用いられる。本研究では、瞬間的なIRドロップによるテストデータ破損の可能性を最小化するためのスキャンチェーン最適グループ化アルゴリズムを提案し、大規模ITC'99ベンチマーク回路を用いた評価実験でその有効性を示す。 |
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