| 大会名称 |
|---|
| 2010年 情報科学技術フォーラム(FIT) |
| 大会コ－ド |
| F |
| 開催年 |
| 2010 |
| 発行日 |
| 2010/8/20 |
| セッション番号 |
| 3B |
| セッション名 |
| パターン・リファクタリング |
| 講演日 |
| 2010/09/07 |
| 講演場所(会議室等) |
| B会場（総合学習プラザ1F 第6講義室） |
| 講演番号 |
| B-015 |
| タイトル |
| フィールドとメソッド間の依存関係に着目したリファクタリング適用箇所抽出方法 |
| 著者名 |
| 若林 智徳, 松浦 佐江子, |
| キーワード |
| リファクタリング, 不吉な匂い, ソフトウェアメトリクス |
| 抄録 |
|
初学者のプログラムを分析すると，手続き的な記述によって機能的な要求は満たしているが，そのコードは複雑で可読性に乏しく，保守性の低いプログラムが散見される．保守性の低さは，機能追加やバグの発見を困難とさせる要因となる． 保守性改善の手法としてリファクタリングが有効であるが，コードに手を加える際に目標とする改変が本当に有効かを事前に判断する事は，初学者にとって困難である． 本研究はJava開発環境において，初学者のコードに多い依存関係に関する不吉な匂いに起因する特徴的なコード片と，コードクローンやCKメトリクスの分析によってメソッドの抽出等を行い，後者の値を改善することでプログラムの保守性向上を図る． |
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