| 大会名称 |
|---|
| 2021年 ソサイエティ大会 |
| 大会コ－ド |
| 2021S |
| 開催年 |
| 2021 |
| 発行日 |
| 2021/8/31 |
| セッション番号 |
| C-12 |
| セッション名 |
| 集積回路 |
| 講演日 |
| 2021/9/15 |
| 講演場所(会議室等) |
| Meeting 17 |
| 講演番号 |
| C-12-18 |
| タイトル |
| 集積回路のソフトエラー |
| 著者名 |
| ○小林和淑, |
| キーワード |
| ソフトエラー, 集積回路, 一時故障, 中性子, アルファ線 |
| 抄録 |
| 集積回路(LSI)の微細化に伴い搭載されるトランジスタ数は爆発的に増加している．一方，LSIの適用分野は自動運転や航空宇宙にまで及んでおり，信頼性が毀損すると人命を脅かす．ソフトエラーは放射線によりSRAMやフリップフロップなどの記憶素子の記憶値が反転する現象である．永久故障であるハードエラーと異なり，不具合が起こっても電源の再投入やメモリの再書込で修復できる一時故障である．ソフトエラーはランダムに発生し，LSIになんらの損傷も起こさないため，一時故障の要因がソフトエラーであるかどうかの判断は非常に難しい．ここでは我々の研究グループが実施してきたソフトエラーに関する研究の一部を紹介するとともに産官学連携についてもまとめる． |
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