| 大会名称 |
|---|
| 2020年 総合大会 |
| 大会コ－ド |
| 2020G |
| 開催年 |
| 2020 |
| 発行日 |
| 2020-03-03 |
| セッション番号 |
| D-10 |
| セッション名 |
| ディペンダブルコンピューティング |
| 講演日 |
| 2020/3/17 |
| 講演場所(会議室等) |
| 工学部 講義棟１F 117講義室 |
| 講演番号 |
| D-10-5 |
| タイトル |
| フィールドテスト向けオンチップ遅延測定回路のIoT適用 |
| 著者名 |
| ○三宅庸資, 梶原誠司, |
| キーワード |
| フィールドテスト, 論理BIST, 遅延測定, 劣化検知, 温度センサ, IoT |
| 抄録 |
| VLSIの運用時の経年劣化に起因する故障が懸念されている．回路の劣化による遅延の増加を検出するには，フィールドでの定期的な遅延測定が有効である．著者らは論理回路の組込み自己テストによる遅延測定手法を提案し，温度電圧センサと組み合わせた環境変動に依存しない遅延測定メカニズムの実用化検証を進めている．遅延測定はシステムのパワーオン時などのテスト機会に実施するため，運用中のVLSIからテスト結果を取得する制御機構が必要である．本研究では，フィールドテストのための劣化検知技術において，TAP(Test Access Port)コントローラ等を利用した制御構造を提案する．また，測定結果を外部サーバに送信する必要があるため，オンチップ遅延測定回路のIoT適用について検討する． |
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