大会名称
2020年 総合大会
大会コ-ド
2020G
開催年
2020
発行日
2020-03-03
セッション番号
C-1
セッション名
電磁界理論
講演日
2020/3/18
講演場所(会議室等)
工学部 講義棟1F 112講義室
講演番号
C-1-13
タイトル
マイクロ波非破壊検査のためのCSI法に基づく目標形状位置及び複素誘電率推定の双方向処理
著者名
◎諸岡貴英木寺正平
キーワード
マイクロ波UWBレーダ, 逆散乱解析, 非破壊検査, 複素誘電率推定
抄録
マイクロ波超広帯域(UWB: Ultra-wide Band)レーダは,高い距離分解能とコンクリート等への深い到達深度を実現するため,老朽化した交通インフラ等の非破壊計測技術として有望である.空洞や鉄筋腐食等の複素誘電率はコンクリート等と有意に異なるため,同誘電率の情報を空間的な分布として推定するトモグラフィ方式を導入することで,その識別率が飛躍的に向上すると期待されている.上記応用を想定し,先行研究は,レーダ方式であるRPM(Range Points Migration)法とトモグラフィ方式であるCSI(Contrast Source Inversion)法を融合した手法を提案している.同手法では,RPM法により関心領域(ROI: Region of Interest) を事前推定して絞り込むことで,CSIの未知数を大幅に減らすことに成功した.しかし,同手法のROIの推定精度は不十分であり,所望の複素誘電率推定精度を達成することができていない.同問題を解決するため,本稿では事前分布を与えたランダムサーチにより,ROI及び複素誘電率を更新する手法を導入する.同手法の有効性を数値計算によって示す.
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