大会名称 |
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2020年 総合大会 |
大会コ-ド |
2020G |
開催年 |
2020 |
発行日 |
2020-03-03 |
セッション番号 |
C-1 |
セッション名 |
電磁界理論 |
講演日 |
2020/3/18 |
講演場所(会議室等) |
工学部 講義棟1F 112講義室 |
講演番号 |
C-1-12 |
タイトル |
マイクロ波非破壊検査のためのCSI法による複素誘電率再構成の実験的検討 |
著者名 |
○花房崇裕, 仲村慎吾, 工藤高裕, 木寺正平, |
キーワード |
非破壊検査, 逆散乱解析, 複素誘電率 |
抄録 |
マイクロ波非破壊検査技術は,非接触で大規模領域を迅速に検査することが可能であるため,老朽化した交通インフラの検査等に有望である.逆散乱解析法は目標の複素誘電率分布を定量的に画像化できるため,空洞・鉄筋腐食等の目標識別に有効であることが期待される.しかし,一般的な非破壊検査の観測モデルでは観測方向が制限されるため,極めて劣悪な不良設定逆問題を解く必要がある.そこで,先行研究としてレーダ方式と,逆散乱解析法であるDBIM(Destorted Born Iterative Method)法を統合した手法が提案されており,数値計算モデルに対する有効性が示されている.本稿では,CSI(Contrast Source Inversion)法と同手法の実験的検討に必要なデータ較正手順法を導入し,その有用性を空洞を有するコンクリート試供体で実験的に検証する. |
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