| 大会名称 |
|---|
| 2020年 総合大会 |
| 大会コ－ド |
| 2020G |
| 開催年 |
| 2020 |
| 発行日 |
| 2020-03-03 |
| セッション番号 |
| B-13 |
| セッション名 |
| 光ファイバ応用技術 |
| 講演日 |
| 2020/3/18 |
| 講演場所(会議室等) |
| 総合科学部 K棟１F K109講義室 |
| 講演番号 |
| B-13-17 |
| タイトル |
| OFDR-DASにおける振動起因の周波数変調に対する耐力のシミュレーション |
| 著者名 |
| ○岡本達也, 飯田大輔, 押田博之, |
| キーワード |
| 光ファイバ振動分布測定, 光周波数領域反射計測 |
| 抄録 |
| 光ファイバの任意の位置におけるレイリー後方散乱光の光スペクトルを仮想的振動センサとして活用できる光周波数領域反射計測技術（OFDR）による振動分布測定では，光スペクトルシフトから動的歪みを測定することができる．しかしながら，光ファイバに加わる振動は振動印加区間に動的歪みを与えるのみならず，その区間を伝搬する光を周波数変調する．OFDRは周波数に敏感な測定であるため，振動印加区間より後方からの後方散乱光とローカル光とのビート周波数は変調され，測定距離が変調される．ビート周波数で指定される動的歪み解析区間がずれたとしても，正しく振動を解析できる条件をシミュレーションによって導出し，その妥当性を実験で確認したことを報告する． |
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