| 大会名称 |
|---|
| 2018年 総合大会 |
| 大会コ－ド |
| 2018G |
| 開催年 |
| 2018 |
| 発行日 |
| セッション番号 |
| C-12 |
| セッション名 |
| 集積回路 |
| 講演日 |
| 2018/3/20 |
| 講演場所(会議室等) |
| ２号館 8Ｆ 2805教室 |
| 講演番号 |
| C-12-22 |
| タイトル |
| FPGAとマイコンで制御する小型かつ低電力なBTI評価用チップ測定系の定電圧電源回路の検討 |
| 著者名 |
| ◎中村遥香, 中野洋希, 岸田 亮, 小林和淑, |
| キーワード |
| BTI, チップ測定系 |
| 抄録 |
| 集積回路の微細化の進行により，BTIによる経年劣化現象が問題となっている．時間経過に伴うしきい値電圧の劣化を検証するために，BTIによる劣化を長時間(数年間)測定し続けることができる小型かつ低電力なチップ測定系と，逆方向基板バイアスのための負電圧を生成する回路を設計し，その動作確認を行った結果を報告する．定電圧電源回路に供給するPWM信号はFPGAから出力し，Duty比で出力電圧を設定する．負電圧は，チャージポンプを用いて電圧反転させる．提案した電源回路と市販電源それぞれを用いてリングオシレータの発振周波数を測定した結果，提案した電源回路によって生成された電圧が，市販電源と同程度の電圧安定性であることを確認した． |
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