| 大会名称 |
|---|
| 2018年 総合大会 |
| 大会コ－ド |
| 2018G |
| 開催年 |
| 2018 |
| 発行日 |
| セッション番号 |
| B-4 |
| セッション名 |
| 環境電磁工学 |
| 講演日 |
| 2018/3/21 |
| 講演場所(会議室等) |
| ２号館 8Ｆ 2801教室 |
| 講演番号 |
| B-4-26 |
| タイトル |
| 大規模電磁界解析を用いた静電気解析技術の開発 |
| 著者名 |
| ○松原 亮, 井口勝夫, |
| キーワード |
| EMC, ESD, 静電気解析, FDTD法 |
| 抄録 |
| EMC課題を早期解決するための電磁界解析が重要になってきている．これまでプリント基板のまるごとのEMC解析の技術開発を行ってきた．しかし，電子機器を筐体，基板含めまるごとモデル化し，静電気解析を実施した報告は少ない．本報告では，静電気ガンおよび多層基板と複雑な金属筐体をまるごとモデル化することで，セット全体にまつわる複雑な静電気課題発生メカニズムの分析を可能としたので報告する． |
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