| 大会名称 |
|---|
| 2017年 総合大会 |
| 大会コ－ド |
| 2017G |
| 開催年 |
| 2017 |
| 発行日 |
| セッション番号 |
| AS-3 |
| セッション名 |
| ハードウェアセキュリティ |
| 講演日 |
| 2017/3/25 |
| 講演場所(会議室等) |
| 共通講義棟南 502 |
| 講演番号 |
| AS-3-4 |
| タイトル |
| ハードウェアセキュリティのためのシリコンランダム構造の固有分析 |
| 著者名 |
| ○成瀬 誠, 法元盛久, 大八木康之, 西尾俊平, 竪 直也, 吉田直樹, 葛西誠也, 松本 勉, |
| キーワード |
| ハードウェアセキュリティ |
| 抄録 |
| IoT等の重要性の高まりに伴い，人工物メトリクスやPUFなど物理的特徴に基づいたハードウェアセキュリティの可能性が改めて注目されている．我々は，攻撃者が最高レベルの物質加工技術を保持していたとしてもなお，十分なセキュリティ性能を確保できる原理と技術の一つとして，シリコン微細加工プロセスで生じるレジスト倒壊現象に着目し，加工技術限界を超えたレベルで生じる構造を用いた「ナノ人工物メトリクス」を提唱し，実際にデバイスを構築し基本性能を評価してきた．本研究は，実際に作製したシリコンランダム構造に対し固有分析を行うことで，デバイスの多様性並びに可能な個体数を評価した． |
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