| 大会名称 |
| 2017年 総合大会 |
| 大会コ－ド |
| 2017G |
| 開催年 |
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2017
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| 発行日 |
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| セッション番号 |
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AS-3
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| セッション名 |
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ハードウェアセキュリティ
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| 講演日 |
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2017/3/25
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| 講演場所(会議室等) |
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共通講義棟南 502
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| 講演番号 |
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AS-3-1
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| タイトル |
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Second Glitch PUFの耐タンパ性評価
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| 著者名 |
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◎池崎良哉, 吉川雅弥,
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| キーワード |
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ハードウェアセキュリティ, Physical Unclonable Function, Glitch PUF, 機械学習
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| 抄録 |
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リバースエンジニアリングの発展と伴に，電子部品の模造品問題が深刻化してきた．模造品は金銭的な被害だけでなく，人命に関わる重大な事故に繋がる可能性がある．電子部品の認証を行う技術として，Physical Unclonable Function (PUF)がある．PUFは回路製造時のばらつきを利用して，固有のIDを生成する．中でも，Glitch PUFは既存の回路を利用して実装できるため，注目されている．一方で，PUFは複製が困難であるが，機能を模倣することが可能であることが報告されている．安全な電子部品利用のためにも，PUFに関する研究は非常に重要である．これまでにGlitch PUFを対象とした耐タンパ性評価に関する研究はあまり報告されていない．そこで，本研究では，Second Glitch PUFをFPGAに実装し，評価実験によりSecond Glitch PUFの耐タンパ性を評価する．
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