| 大会名称 |
|---|
| 2016年 ソサイエティ大会 |
| 大会コ－ド |
| 2016S |
| 開催年 |
| 2016 |
| 発行日 |
| 2016-09-06 |
| セッション番号 |
| CI-4 |
| セッション名 |
| 有機エレクトロニクスにおける評価・作製技術の進展 |
| 講演日 |
| 2016/9/21 |
| 講演場所(会議室等) |
| 工学部 P棟 P354 |
| 講演番号 |
| CI-4-2 |
| タイトル |
| In-situ2次元X線回折による有機半導体薄膜成長過程の構造評価 |
| 著者名 |
| 吉本則之, |
| キーワード |
| 有機半導体, X線回折 |
| 抄録 |
| 有機薄膜の形成過程の構造を明らかにするために、X線回折測定がin-situで可能な真空蒸着装置を作製し、ペンタセンやオリゴチオフェンなどの代表的な有機半導体の薄膜の形成過程の２次元すれすれ入射X線回折(2D-GIXD)測定により観察した。本報告では、分子構造の違いによって起こる成長様式の違いや、薄膜の形成過程に見られる構造の変化、さらに、２元蒸着によるpn有機半導体混合膜の形成過程の構造評価の結果を紹介する |
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