大会名称
2016年 ソサイエティ大会
大会コ-ド
2016S
開催年
2016
発行日
2016-09-06
セッション番号
C-14
セッション名
マイクロ波・ミリ波フォトニクス
講演日
2016/9/21
講演場所(会議室等)
工学部 情報科学研究科棟 A23
講演番号
C-14-11
タイトル
2点測定型プローブを用いた非同期電気光学検出技術による準ミリ波の一次元位相分布測定
著者名
◎中島 滉久武信太郎内田裕久東條 誠及川陽一宮地邦男永妻忠夫
キーワード
EO検出, 非同期測定, 2点測定型プローブ
抄録
我々は,アンテナと自励発振器が分離できないデバイスから放射される電界の振幅と位相の空間分布を計測するための,非同期電気光学(EO)検出技術の開発に取り組んでいる.これまでの,非同期EO検出技術では,空間の一部に参照プローブが固定配置されていることにより,測定範囲が制限されるという問題があった.本稿では,測定範囲の制限を受けないプローブとして,1 つのプローブで2 点の位相を測定する「2 点測定型プローブ」を新たに提案し,ホーンアンテナから放射される準ミリ波の一次元位相分布を測定した結果を述べる.
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