| 大会名称 |
| 2016年 ソサイエティ大会 |
| 大会コ－ド |
| 2016S |
| 開催年 |
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2016
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| 発行日 |
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2016-09-06
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| セッション番号 |
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A-6
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| セッション名 |
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VLSI設計技術
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| 講演日 |
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2016/9/20
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| 講演場所(会議室等) |
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工学部 C棟 C209
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| 講演番号 |
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A-6-3
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| タイトル |
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しきい値電圧ばらつきによるBistable Ring PUFの応答予測
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| 著者名 |
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◎田中悠貴, 吉永 幹, 廣本正之, 佐藤高史,
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| キーワード |
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Physical Unclonable Function, しきい値電圧ばらつき, インバータリング, 機械学習攻撃
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| 抄録 |
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半導体の製造ばらつきを用いてICの個体認証を行うPhysical Unclonable Function (PUF)の一つに，Bistable Ring PUF（BR-PUF）がある．BR-PUFは機械学習攻撃に強い等の特性があり今後広く使用される可能性があるが，そのメカニズムは詳細に明らかにされていない．本稿では，シミュレーションを通してBR-PUFの出力を決定する要因を分析した．結果として，BR-PUFで使用されている各インバータの入出力特性を考慮することで，BR-PUFにおけるトランジスタの閾値電圧の値から収束値を98.7%の確率で予測できることがわかった．
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