| 大会名称 |
| 2016年 総合大会 |
| 大会コ－ド |
| 2016G |
| 開催年 |
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2016
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| 発行日 |
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2016/3/1
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| セッション番号 |
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BI-8
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| セッション名 |
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光ファイバセンサの現状と将来動向
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| 講演日 |
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2016/3/15
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| 講演場所(会議室等) |
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西講義棟 2F 第2講義室
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| 講演番号 |
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BI-8-9
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| タイトル |
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光ファイバリンクとEOセンサを用いた近傍界プロービングによる電磁界計測
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| 著者名 |
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◎飴谷充隆, 黒川 悟,
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| キーワード |
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光ファイバリンク, EOセンサ, 近傍界, プロービング, EMI測定法
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| 抄録 |
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現在，情報通信機器等の電子部品搭載機器に対して，電波暗室を用いたEMI（Electro-magnetic interference，電磁妨害波）試験が実施されている．今後のIoT 時代においては様々な装置が主に無線によって接続されることが想定されるが、IoT デバイスは様々な電磁環境下で運用されることが予想されるため，複雑な電磁環境が想定される運用状態においてEMI 試験ができることが望まれており，設置場所EMI 試験法の開発が求められている。 これらの問題を解決するためにの測定法として、光ファイバリンクとEO センサを用いた近傍界プロービングによる電磁界計測法を提案する。
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