| 大会名称 |
|---|
| 2016年 総合大会 |
| 大会コ－ド |
| 2016G |
| 開催年 |
| 2016 |
| 発行日 |
| 2016/3/1 |
| セッション番号 |
| C-1 |
| セッション名 |
| 電磁界理論 |
| 講演日 |
| 2016/3/16 |
| 講演場所(会議室等) |
| センター2号館 2F 2205 |
| 講演番号 |
| C-1-12 |
| タイトル |
| 均質誘電体円柱の再構成への区間解析の利用 |
| 著者名 |
| ○石田健一, |
| キーワード |
| 逆散乱問題, 誘電体円柱, 電磁波による可視化, 回折トモグラフィ, 区間解析 |
| 抄録 |
| 散乱波から物体を再構成する逆散乱問題に対し，散乱波の測定値と計算値の差に関する目的関数の最小点を求める手法がある．本稿では，散乱波から均質誘電体円柱の屈折率を推定する問題を，区間解析の考え方を用いて解いている．数値例では，半径が入射波の波長で屈折率が2の均質誘電体円柱について，局小解に補足されず真値が求まったことを示している． |
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