2005年 情報科学技術フォーラム(FIT)

講演番号 題目/著者
C-018衝突回避による固定制御可検査性に基づくテスト容易化設計法の改良について

川原 侑大,  市原 英行,  井上 智生,  

C-019不均一ビット幅RTLデータパスに対する組込み自己テスト法

青山 瑠美,  山口 賢一,  

C-020回路構造を利用したテスト容易化設計支援システム

吉田 宜司,  岩田 大志,  青山 瑠美,  山口 賢一,  

C-021畳込み圧縮器におけるXマスク確率の評価に関する一考察

新井 雅之,  福本 聡,  岩崎 一彦,  

LC-003無閉路部分スキャン設計を指向したテスト容易化高位合成におけるスケジューリングの高速化

岡 伸也,  市原 英行,  井上 智生,  

LC-004Feasibility of Interconnect Open Detection by Ramp Voltage Application

三浦 幸也,