講演番号 | 題目/著者 |
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C-018 | 衝突回避による固定制御可検査性に基づくテスト容易化設計法の改良について 川原 侑大, 市原 英行, 井上 智生, |
C-019 | 不均一ビット幅RTLデータパスに対する組込み自己テスト法 青山 瑠美, 山口 賢一, |
C-020 | 回路構造を利用したテスト容易化設計支援システム 吉田 宜司, 岩田 大志, 青山 瑠美, 山口 賢一, |
C-021 | 畳込み圧縮器におけるXマスク確率の評価に関する一考察 新井 雅之, 福本 聡, 岩崎 一彦, |
LC-003 | 無閉路部分スキャン設計を指向したテスト容易化高位合成におけるスケジューリングの高速化 岡 伸也, 市原 英行, 井上 智生, |
LC-004 | Feasibility of Interconnect Open Detection by Ramp Voltage Application 三浦 幸也, |