講演番号 | 題目/著者 |
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C-018 | BIST環境下におけるメルセンヌ・ツイスタアルゴリズムの評価 吉田拓弥, 里中沙矢香, 山口賢一, 岩田大志, |
C-019 | On-line Divided Diagnosis for High-availability Systems 真矢 讓, |
C-020 | 組込み自己診断におけるテストパターン系列の診断能力に関して 宮本夏規, 村上陽紀, 王森レイ, 樋上喜信, 高橋 寛, 大竹哲史, |
C-021 | 適応的消失訂正符号化とデータ圧縮によるディスクアレイの修復バンド幅の削減 長谷川雄大, 金子晴彦, |
RC-010 | A Method for Aging Estimation of CMOS Circuits Using Ring Oscillators 三浦幸也, 池田龍史, |
RC-011 | 一般化BPアルゴリズムを用いたLDPC符号復号回路の設計と評価 橋本顕義, 森野東海, |
RC-012 | 系統間交換型誤り検出符号によるフォールトマスク冗長系の一提案 岩井仁司, |