2016年 総合大会

講演番号 題目/著者
D-10-1高い耐ソフトエラー性を有するラッチ

◎上野弘貴,  難波一輝,  

D-10-2マルチサイクルテストのためのFFの構造的評価

門田一樹,  ◎濱田　宗,  王　森レイ,  樋上喜信,  高橋　寛,  岩田浩幸,  松嶋　潤,  

D-10-3LoS方式における遷移故障を対象としたスキャンパスの最適化

○福岡久和,  岩田大志,  山口賢一,  

D-10-4冗長故障の等価性を用いた遷移故障冗長判定

◎片山七海,  岩田大志,  山口賢一,  

D-10-5アナログ回路の構造テストにおけるレイアウト情報を用いたテスト生成の効率化

○宮澤悠一,  西田健太郎,  小松　聡,  

D-10-6再構成可能デバイスMRLDとテスタ応用

○佐藤正幸,  大原　衛,  岡部　忠,  

D-10-7複数タブレット同時操作試験におけるエビデンス取得方式の検討

◎三宅信之,  田村孝之,  

D-10-8ZooKeeperを用いた高可用性システムの評価

◎渡邉和樹,  鶴　薫,