エレクトロニクス-シリコン材料・デバイス(開催日:2003/12/12)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

,  

[発表日]2003/12/12
[資料番号]
目次

,  

[発表日]2003/12/12
[資料番号]
[Invited Paper] Low Temperature Gate Dielectrics for Organic Thin-Film Transistors on Plastic Substrates

,  

[発表日]2003/12/12
[資料番号]SDM2003-179(2003-12)
Poly-Si TFT特性の酸化膜界面トラップと結晶粒界トラップに対する依存性およびその製造プロセス診断への応用(半導体Si及び関連材料・評価)

木村 睦,  井上 聡,  下田 達也,  

[発表日]2003/12/12
[資料番号]SDM2003-180(2003-12)
多結晶シリコンヘイオンドーピングされたドーパントの低温活性化(半導体Si及び関連材料・評価)

鮫島 俊之,  安藤 伸行,  安東 靖典,  

[発表日]2003/12/12
[資料番号]SDM2003-181(2003-12)
SPC、ELA連続処理により形成された多結晶シリコンの結晶成長(半導体Si及び関連材料・評価)

河本 直哉,  松尾 直人,  浜田 弘喜,  原田 泰典,  

[発表日]2003/12/12
[資料番号]SDM2003-182(2003-12)
水素ラジカル励起と高密度・低ポテンシャルプラズマを用いた低温ポリシリコン成膜技術 : 成長初期段階の結晶化シリコン成膜・評価技術(半導体Si及び関連材料・評価)

桐村 浩哉,  久保田 清,  高橋 英治,  岸田 茂明,  緒方 潔,  北島 浩司,  浦岡 行治,  冬木 隆,  

[発表日]2003/12/12
[資料番号]SDM2003-183(2003-12)
Si-NMOSFETのキャリア熱速度の計算 : チャネル不純物濃度, backscattering係数,並びにチャネルSi膜厚依存性(半導体Si及び関連材料・評価)

宝玉 充,  土屋 敏章,  

[発表日]2003/12/12
[資料番号]SDM2003-184(2003-12)
チタン酸ビスマス薄膜の作製におけるシリコン添加効果(半導体Si及び関連材料・評価)

山口 正樹,  増田 陽一郎,  

[発表日]2003/12/12
[資料番号]SDM2003-185(2003-12)
強誘電体PZT薄膜のゾルゲル法における減圧仮焼成の効果(半導体Si及び関連材料・評価)

宮迫 毅明,  妹尾 賢,  徳光 永輔,  

[発表日]2003/12/12
[資料番号]SDM2003-186(2003-12)
PLDにより製膜したHf酸化物の界面評価(半導体Si及び関連材料・評価)

金島 岳,  寒川 雅之,  池田 幸司,  吉田 真人,  奥山 雅則,  

[発表日]2003/12/12
[資料番号]SDM2003-187(2003-12)
SOI基板上SiGe/Siを用いて作製したマイクロオリガミ構造の評価(半導体Si及び関連材料・評価)

坂野 佳久,  森 大輔,  徳田 崇,  太田 淳,  布下 正宏,  久保田 和芳,  / 田村 修一,  / 斎藤 信雄,  

[発表日]2003/12/12
[資料番号]SDM2003-188(2003-12)
SiCを用いた高耐圧RESURF MOSFETの設計と作製(半導体Si及び関連材料・評価)

木本 恒暢,  小杉 肇,  神崎 庸輔,  須田 淳,  松波 弘之,  

[発表日]2003/12/12
[資料番号]SDM2003-189(2003-12)
新しいチャネル構造を持つ4H-SiC MOSFET (SC-MOSFET)の作製(半導体Si及び関連材料・評価)

海藤 淳司,  木本 恒暢,  須田 淳,  松波 弘之,  

[発表日]2003/12/12
[資料番号]SDM2003-190(2003-12)
シリコン界面ナノ制御による光電極動作のシミュレーション(半導体Si及び関連材料・評価)

八木 俊樹,  浦岡 行治,  冬木 隆,  

[発表日]2003/12/12
[資料番号]SDM2003-191(2003-12)
シリコン多重ドット構造における単電子伝導の光応答特性(半導体Si及び関連材料・評価)

池田 浩也,  ヌルヤディ ラトノ,  石川 靖彦,  田部 道晴,  

[発表日]2003/12/12
[資料番号]SDM2003-192(2003-12)
Si量子ドットを用いたフローティングゲートメモリ : PECVD法を用いたSiナノドットへの電子注入(半導体Si及び関連材料・評価)

猪飼 順子,  彦野 太樹夫,  浦岡 行治,  冬木 隆,  桐村 浩哉,  加藤 健治,  

[発表日]2003/12/12
[資料番号]SDM2003-193(2003-12)
フェリチンタンパクのSi基板への直接吸着(半導体Si及び関連材料・評価)

川嶋 宏之,  彦野 太樹夫,  山田 圭佑,  浦岡 行治,  山下 一郎,  冬木 隆,  

[発表日]2003/12/12
[資料番号]SDM2003-194(2003-12)
[招待論文]Si量子ドットの荷電状態制御とフローティングゲートMOSデバイスへの応用(半導体Si及び関連材料・評価)

宮崎 誠一,  

[発表日]2003/12/12
[資料番号]SDM2003-195(2003-12)
複写される方へ

,  

[発表日]2003/12/12
[資料番号]
12>> 1-20hit(21hit)