エレクトロニクス-電子デバイス(開催日:2011/07/22)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

,  

[発表日]2011/7/22
[資料番号]
目次

,  

[発表日]2011/7/22
[資料番号]
AlGaN/GaN HFETに対する炭素添加高抵抗化SiドープGaNバッファ層の効果(TFT(有機,酸化物),半導体プロセス・デバイス(表面,界面,信頼性),一般)

深井 雅之,  柿澤 秀介,  伏見 浩,  

[発表日]2011/7/22
[資料番号]ED2011-37
AlGaN/GaN HFETのMIMゲート構造による界面電荷の制御(TFT(有機,酸化物),半導体プロセス・デバイス(表面,界面,信頼性),一般)

深澤 義道,  脇 英司,  伏見 浩,  

[発表日]2011/7/22
[資料番号]ED2011-38
Characterization of sputtered AlN amorphous films and their applications to AlGaN/GaN MIS-HFET

,  

[発表日]2011/7/22
[資料番号]ED2011-39
AlGaN/GaN HEMTにおけるMOS界面特性と電流コラプスの評価(TFT(有機,酸化物),半導体プロセス・デバイス(表面,界面,信頼性),一般)

橋詰 保,  水江 千帆子,  掘 祐臣,  田島 正文,  大井 幸多,  

[発表日]2011/7/22
[資料番号]ED2011-40
フラッシングスプレーCVD法によるNb_2O_5膜の成膜(TFT(有機,酸化物),半導体プロセス・デバイス(表面,界面,信頼性),一般)

富永 浩二,  寺阪 正訓,  清水 哲夫,  千田 二郎,  石田 耕三,  

[発表日]2011/7/22
[資料番号]ED2011-41
GaAs(001)上のAlNスパッタ堆積およびAl_2O_3原子層堆積における表面前処理の効果(TFT(有機,酸化物),半導体プロセス・デバイス(表面,界面,信頼性),一般)

工藤 昌宏,  / 赤堀 誠志,  鈴木 寿一,  

[発表日]2011/7/22
[資料番号]ED2011-42
SiN_x絶縁ゲートGaAsエッチングナノワイヤFETにおける低周波雑音特性の評価(TFT(有機,酸化物),半導体プロセス・デバイス(表面,界面,信頼性),一般)

村松 徹,  三浦 健輔,  白鳥 悠太,  葛西 誠也,  

[発表日]2011/7/22
[資料番号]ED2011-43
フォトニック結晶構造作製を目的とした高Al組成AlGaAs誘導結合型プラズマエッチング(TFT(有機,酸化物),半導体プロセス・デバイス(表面,界面,信頼性),一般)

北林 佑太,  望月 雅矢,  石川 史太郎,  近藤 正彦,  

[発表日]2011/7/22
[資料番号]ED2011-44
III-V化合物半導体を用い歪み駆動自己変形プロセスで作製した微小な円弧型カンチレバーの弾性測定(TFT(有機,酸化物),半導体プロセス・デバイス(表面,界面,信頼性),一般)

岩瀬 比宇麻,  王 建,  赤堀 誠志,  山田 省二,  

[発表日]2011/7/22
[資料番号]ED2011-45
P3HT/n-Si有機無機接合ヘテロダイオードの電荷注入機構と発電特性の解析(TFT(有機,酸化物),半導体プロセス・デバイス(表面,界面,信頼性),一般)

金子 翔,  大山 直樹,  籾山 克章,  鈴木 貴彦,  廣瀬 文彦,  

[発表日]2011/7/22
[資料番号]ED2011-46
MoO_3ホール輸送層を用いた有機薄膜太陽電池の発電特性(TFT(有機,酸化物),半導体プロセス・デバイス(表面,界面,信頼性),一般)

吉田 一樹,  栗原 啓,  籾山 克章,  鈴木 貴彦,  廣瀬 文彦,  

[発表日]2011/7/22
[資料番号]ED2011-47
高溶解性チオフェンオリゴマーの塗布製膜性と有機薄膜太陽電池特性(TFT(有機,酸化物),半導体プロセス・デバイス(表面,界面,信頼性),一般)

鈴木 貴彦,  吉田 一樹,  栗原 啓,  太田 員正,  佐藤 和昭,  大場 好弘,  廣瀬 文彦,  

[発表日]2011/7/22
[資料番号]ED2011-48
高温溶媒吸着法による色素増感太陽電池の高効率化(TFT(有機,酸化物),半導体プロセス・デバイス(表面,界面,信頼性),一般)

石田 瑛之,  吉田 洋大,  籾山 克章,  鈴木 貴彦,  廣瀬 文彦,  

[発表日]2011/7/22
[資料番号]ED2011-49
陽極酸化による透明電極上への酸化チタンナノチューブ膜の形成(TFT(有機,酸化物),半導体プロセス・デバイス(表面,界面,信頼性),一般)

小島 領太,  /,  木村 康男,  庭野 道夫,  

[発表日]2011/7/22
[資料番号]ED2011-50
ボウタイアンテナと三重障壁共鳴トンネルダイオードとを集積したゼロバイアス検波レクテナに関する解析(TFT(有機,酸化物),半導体プロセス・デバイス(表面,界面,信頼性),一般)

中村 昌人,  高萩 智,  斉藤 光史,  須原 理彦,  

[発表日]2011/7/22
[資料番号]ED2011-51
粒子群最適化手法を用いた三重障壁共鳴トンネルダイオードの非線形等価回路の同定(TFT(有機,酸化物),半導体プロセス・デバイス(表面,界面,信頼性),一般)

浅川 澄人,  倉上 祐司,  斉藤 光史,  須原 理彦,  

[発表日]2011/7/22
[資料番号]ED2011-52
量子補正モンテカルロ法による歪みInAs HEMTの解析(TFT(有機,酸化物),半導体プロセス・デバイス(表面,界面,信頼性),一般)

佐藤 純,  町田 史晴,  原 紳介,  藤代 博記,  

[発表日]2011/7/22
[資料番号]ED2011-53
Sbテンプレートを使用したSi(111)面上GaSb薄膜の作製とその評価(TFT(有機,酸化物),半導体プロセス・デバイス(表面,界面,信頼性),一般)

豊田 英之,  岡部 晃也,  神保 良夫,  内富 直隆,  

[発表日]2011/7/22
[資料番号]ED2011-54
12>> 1-20hit(28hit)