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DB info
蜂屋孝太郎, 黒川敦,"3D-ICにおける電源TSVの抵抗性オープン故障の検出手法",
信学技報 CS2019-104, pp. 37-41, 2020年2月.
Koutaro Hachiya and Atsushi Kurokawa,
"Detecting Resistive-Open Defects of Power TSVs in 3D-ICs,"
IEICE Tech. Rep., CS2019-104, pp. 37-41, Feb. 2020.
資料番号: CS2019-104, CAS2019-104
pLaTeX format
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\bibitem{cs2019-104}
蜂屋孝太郎, 黒川敦,
``3D-ICにおける電源TSVの抵抗性オープン故障の検出手法'',
信学技報 CS2019-104, pp.~37-41, 2020年2月.
\bibitem{cs2019-104}
Koutaro~Hachiya and Atsushi~Kurokawa,
``Detecting Resistive-Open Defects of Power TSVs in 3D-ICs,''
{\em IEICE Tech. Rep.}, CS2019-104, pp.~37-41, Feb. 2020.
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