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北島皓興, 谷地舘 陽, 松元藤彦, 野口泰明,"移動度の低下により劣化したMOSトランスコンダクタの線形性を改善するための一手法",
信学技報 CS2005-121, pp. 61-66, 2006年3月.
Teruoki Kitajima, Akira Yachidate, Fujihiko Matsumoto and Yasuaki Noguchi,
"A Technique to improve linearity deterioreted by mobility degradation for an MOS transconductor,"
IEICE Tech. Rep., CS2005-121, pp. 61-66, March 2006.
資料番号: CS2005-121, CAS2005-128, SIP2005-174
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\bibitem{cs2005-121}
北島皓興, 谷地舘~陽, 松元藤彦, 野口泰明,
``移動度の低下により劣化したMOSトランスコンダクタの線形性を改善するための一手法'',
信学技報 CS2005-121, pp.~61-66, 2006年3月.
\bibitem{cs2005-121}
Teruoki~Kitajima, Akira~Yachidate, Fujihiko~Matsumoto and Yasuaki~Noguchi,
``A Technique to improve linearity deterioreted by mobility degradation for an MOS transconductor,''
{\em IEICE Tech. Rep.}, CS2005-121, pp.~61-66, March 2006.
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