情報・システム-ディペンダブルコンピューティング(開催日:2005/02/11)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

,  

[発表日]2005/2/11
[資料番号]
目次

,  

[発表日]2005/2/11
[資料番号]
完全故障検出効率を保証するデータパスの部分強可検査設計(上流 DFT, VLSI 設計とテスト及び一般)

岩田 浩幸,  米田 友和,  大竹 哲史,  藤原 秀雄,  

[発表日]2005/2/11
[資料番号]DC2004-92
状態可観測な不完全記述 FSM の機能テスト法(上流 DFT, VLSI 設計とテスト及び一般)

細川 利典,  藤原 秀雄,  

[発表日]2005/2/11
[資料番号]DC2004-93
ホールド制御削減のための階層テスト容易化設計法(上流 DFT, VLSI 設計とテスト及び一般)

岡本 直己,  市原 英行,  井上 智生,  細川 利典,  藤原 秀雄,  

[発表日]2005/2/11
[資料番号]DC2004-94
多重外部出力検出テスト生成方法(テスト生成, VLSI 設計とテスト及び一般)

中里 大祐,  細川 利典,  山崎 浩二,  石黒 僚,  伊達 博,  

[発表日]2005/2/11
[資料番号]DC2004-95
Equivalence of Sequential Transition Test Generation and Constrained Combinational Stuck-at Test Generation

,  

[発表日]2005/2/11
[資料番号]DC2004-96
テスト容易化合成情報に基づく順序回路テスト生成の高速化(テスト生成, VLSI 設計とテスト及び一般)

中里 昌人,  大竹 哲史,  藤原 秀雄,  

[発表日]2005/2/11
[資料番号]DC2004-97
畳込み圧縮器における X マスク確率について(BIST と故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)

新井 雅之,  福本 聡,  岩崎 一彦,  

[発表日]2005/2/11
[資料番号]DC2004-98
不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくブリッジ故障の診断法(BIST と故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)

栗山 和樹,  西山 隆広,  樋上 喜信,  山崎 浩二,  高橋 寛,  高松 雄三,  

[発表日]2005/2/11
[資料番号]DC2004-99
不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくオープン故障の診断法(BIST と故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)

武智 清,  佐藤 雄一,  高橋 寛,  樋上 喜信,  山崎 浩二,  高松 雄三,  

[発表日]2005/2/11
[資料番号]DC2004-100
時間オートマトンによるソフトリアルタイムシステムのスケジューリング解析(スケジューリング, VLSI 設計とテスト及び一般)

山根 智,  

[発表日]2005/2/11
[資料番号]DC2004-101
再構成可能結合ラッパーを用いた SoC のテストスケジューリング(スケジューリング, VLSI 設計とテスト及び一般)

今西 真博,  米田 友和,  藤原 秀雄,  

[発表日]2005/2/11
[資料番号]DC2004-102
消費電力を考慮したマルチクロックドメイン SoC のテストスケジューリング(スケジューリング, VLSI 設計とテスト及び一般)

増田 公彦,  米田 友和,  藤原 秀雄,  

[発表日]2005/2/11
[資料番号]DC2004-103
n 回検出テストの故障診断に対する有用性に関する一考察(故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)

石黒 僚,  中里 大祐,  山崎 浩二,  細川 利典,  

[発表日]2005/2/11
[資料番号]DC2004-104
検出/非検出情報に基づくオープン故障診断への誤り経路追跡法の適用(故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)

山崎 浩二,  樋上 喜信,  高橋 寛,  高松 雄三,  

[発表日]2005/2/11
[資料番号]DC2004-105
検出/非検出情報に基づく複数故障モデルに対する故障診断法(故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)

山崎 亜佳根,  精山 哲也,  高橋 寛,  樋上 喜信,  山崎 浩二,  高松 雄三,  

[発表日]2005/2/11
[資料番号]DC2004-106
超微細 LSI のパス遅延故障に対するテスト圧縮法について(非縮退故障モデルテスト, VLSI 設計とテスト及び一般)

梶原 誠司,  福永 昌勉,  温 暁青,  前田 敏行,  浜田 周治,  佐藤 康夫,  

[発表日]2005/2/11
[資料番号]DC2004-107
ディレイ品質を予測する統計的品質モデル(非縮退故障モデルテスト, VLSI 設計とテスト及び一般)

佐藤 康夫,  浜田 周治,  前田 敏行,  高取 厚夫,  梶原 誠司,  

[発表日]2005/2/11
[資料番号]DC2004-108
ランプ電圧印加による信号線オープン故障の検出(非縮退故障モデルテスト, VLSI 設計とテスト及び一般)

三浦 幸也,  

[発表日]2005/2/11
[資料番号]DC2004-109
12>> 1-20hit(23hit)