| 講演名 | 2005/2/11 検出/非検出情報に基づくオープン故障診断への誤り経路追跡法の適用(故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般) 山崎 浩二, 樋上 喜信, 高橋 寛, 高松 雄三, |
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| 抄録(和) | 回路の微細化が進むのに伴い, 信号線の断線や接続不良によって生じるオープン故障の診断の重要性が増してきている.また近年ではテストの効率化のためにBISTの導入が進んでおり, BIST環境に対応した故障診断法の開発も望まれている.そこで本稿では, BIST環境に対応したオープン故障の診断法を提案する.ISCAS'85ベンチマーク回路に対する計算機実験の結果は, 非検出テストに対して誤り経路追跡法を適用することにより高速に被疑箇所を数箇所程度まで絞れることを示している. |
| 抄録(英) | With the increasing of circuit density, the importance of diagnosing open faults becomes larger. In recent years, built-in self test (BIST) is widely used to reduce test cost. Therefore, development of efficient fault diagnosis approach under BIST environment is much wanted. In this paper, we propose an approach to diagnose open faults based on detecting/un-detecting information. Experimental results for ISCAS'85 benchmark circuits show that the number of suspicious faults becomes less than 3 at most cases by using erroneous path tracing. |
| キーワード(和) | 故障診断 / オープン故障 / 検出/非検出情報 / 誤り経路追跡 |
| キーワード(英) | Fault Diagnosis / Open Faults / Detecting/Un-detecting Information / Erroneous Path Tracing |
| 資料番号 | DC2004-105 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2005/2/11(から1日開催) |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 検出/非検出情報に基づくオープン故障診断への誤り経路追跡法の適用(故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Diagnosis for Open Faults by Using Erroneous Path Tracing Based on Detecting/Un-detecting Information |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 故障診断 / Fault Diagnosis |
| キーワード(2)（和/英） | オープン故障 / Open Faults |
| キーワード(3)（和/英） | 検出/非検出情報 / Detecting/Un-detecting Information |
| キーワード(4)（和/英） | 誤り経路追跡 / Erroneous Path Tracing |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 山崎 浩二 / Koji YAMAZAKI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 明治大学情報コミュニケーション学部 School of Information and Communication, Meiji University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 樋上 喜信 / Yoshinobu HIGAMI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 愛媛大学工学部 Faculty of Engineering, Ehime University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 高橋 寛 / Hiroshi TAKAHASHI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 愛媛大学工学部 Faculty of Engineering, Ehime University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 高松 雄三 / Yuzo TAKAMATSU |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 愛媛大学工学部 Faculty of Engineering, Ehime University |
| 発表年月日 | 2005/2/11 |
| 資料番号 | DC2004-105 |
| 巻番号（vol） | vol.104 |
| 号番号（no） | 664 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |