情報・システム-ディペンダブルコンピューティング(開催日:2003/02/14)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

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[発表日]2003/2/14
[資料番号]
目次

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[発表日]2003/2/14
[資料番号]
不確かなテスト集合をもつBISTの故障診断法

高橋 寛,  栂岡 靖典,  綾野 秀和,  高松 雄三,  

[発表日]2003/2/14
[資料番号]DC2002-79
市場不良率と総合検出率の関係に関する考察

和田 弘樹,  中尾 教伸,  大坪 匡,  大谷 誠,  畠山 一実,  高嶺 美夫,  

[発表日]2003/2/14
[資料番号]DC2002-79
動作領域モデルを用いたアナログ回路の解析法

加藤 大輔,  三浦 幸也,  

[発表日]2003/2/14
[資料番号]DC2002-81
連続可検査性に基づくシステムオンチップの面積オーバヘッドとテスト実行時間の相互最適化

内山 哲夫,  米田 友和,  藤原 秀雄,  

[発表日]2003/2/14
[資料番号]DC2002-82
Partial Order Reductionに基づくTimed回路のsafety/timing failure検出アルゴリズムの効率化について

,  米田 友洋,  

[発表日]2003/2/14
[資料番号]DC2002-83
テスト実行時間削減のためのデータパスの強可検査性に基づくテスト容易化設計法

永井 慎太郎,  大竹 哲史,  藤原 秀雄,  

[発表日]2003/2/14
[資料番号]DC2002-84
パス遅延故障テストにおける故障検出率の推定法

福永 昌勉,  石田 亘司,  梶原 誠司,  竹岡 真巳,  

[発表日]2003/2/14
[資料番号]DC2002-85
遅延ジッタ解析に基づくネットワークシステムの評価方法

熊谷 亘太郎,  角山 正博,  今井 博英,  石井 郁夫,  

[発表日]2003/2/14
[資料番号]DC2002-86
スキャンテスト時の電源電圧ドロップを抑えるMD-SCAN手法

吉田 貴輝,  渡 正文,  

[発表日]2003/2/14
[資料番号]DC2002-87
部分ローテート型スキャン回路のテスタIPへの応用

市野 憲一,  渡辺 康一,  山形 優輝,  新井 雅之,  福本 聡,  岩崎 一彦,  

[発表日]2003/2/14
[資料番号]DC2002-88
トリバレントケイリーグラフにおける最小フィードバック頂点集合

鈴木 康斗,  金子 敬一,  

[発表日]2003/2/14
[資料番号]DC2002-89
ハフマン符号に基づくテスト実行のためのテスト圧縮について

小原 敏敬,  新谷 道広,  市原 英行,  井上 智生,  田村 秋雄,  

[発表日]2003/2/14
[資料番号]DC2002-90
複写される方へ

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[発表日]2003/2/14
[資料番号]
奥付

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[発表日]2003/2/14
[資料番号]