| 講演名 | 2003/2/14 スキャンテスト時の電源電圧ドロップを抑えるMD-SCAN手法 吉田 貴輝, 渡 正文, |
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| 抄録(和) | 昨今、スキャン設計したLSIにおけるスキャン動作時における消費電力やノイズの問題がクローズアップされてきている。我々の開発においてもスキャン動作における電源電圧ドロップにより動作不具合が発生した例が報告されている。我々は、スキャンテストにおける電源電圧ドロップを抑えるために,新しい技術としてMD-SCAN(Multi Duty-Scan)手法を提案し、テスト回路において効果を実証した。 |
| 抄録(英) | As semiconductor manufacturing technology advances, power dissipation and noise in scan testing have become critical problems. Our studies on practical LSI manufacturing show that power supply voltage drop causes testing problems during shift operations in scan testing. In this paper, we present a new testing method named MD-SCAN (Multi Duty-Scan) which solves power supply voltage drop problems, as well as its experimental results applied to practical LSI chips. |
| キーワード(和) | 電源電圧ドロップ / ノイズ / 低消費電力 / スキャンテスト / クロックデュティ |
| キーワード(英) | Power supply voltage drop / Noise / Low power / Scan test / Clock duty |
| 資料番号 | DC2002-87 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2003/2/14(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | スキャンテスト時の電源電圧ドロップを抑えるMD-SCAN手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | MD-SCAN Method for Low Power Scan Testing |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電源電圧ドロップ / Power supply voltage drop |
| キーワード(2)（和/英） | ノイズ / Noise |
| キーワード(3)（和/英） | 低消費電力 / Low power |
| キーワード(4)（和/英） | スキャンテスト / Scan test |
| キーワード(5)（和/英） | クロックデュティ / Clock duty |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 吉田 貴輝 / Takaki Yoshida |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 松下電器産業株式会社 Matshusita Electric Industrial Co., Ltd. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 渡 正文 / Masafumi Watari |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 松下電器産業株式会社 Matshusita Electric Industrial Co., Ltd. |
| 発表年月日 | 2003/2/14 |
| 資料番号 | DC2002-87 |
| 巻番号（vol） | vol.102 |
| 号番号（no） | 658 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |