情報・システム-ディペンダブルコンピューティング(開催日:2010/02/08)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

,  

[発表日]2010/2/8
[資料番号]
目次

,  

[発表日]2010/2/8
[資料番号]
統計的手法による微小Iddq変動外れ値の検出(Iddqテスト・温度均一化,VLSI設計とテスト及び一般)

中村 芳行,  田中 正史,  

[発表日]2010/2/8
[資料番号]DC2009-65
テスト実行時の温度均一化のためのテストパターン並び替え法(Iddqテスト・温度均一化,VLSI設計とテスト及び一般)

中尾 良,  米田 友和,  井上 美智子,  藤原 秀雄,  

[発表日]2010/2/8
[資料番号]DC2009-66
マルチサイクルキャプチャ遷移故障テスト生成を用いたテスト不可能故障の原因解析(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)

小河 宏志,  細川 利典,  吉村 正義,  山崎 浩二,  

[発表日]2010/2/8
[資料番号]DC2009-67
抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)

高橋 寛,  樋上 喜信,  首藤 祐太,  高棟 佑司,  高松 雄三,  堤 利幸,  山崎 浩二,  四柳 浩之,  橋爪 正樹,  

[発表日]2010/2/8
[資料番号]DC2009-68
ハードウェアデバッグ支援のためのエラー入出力トレースの上位レベル設計における再現手法(高位レベルテスト・検証,VLSI設計とテスト及び一般)

李 蓮福,  西原 佑,  松本 剛史,  藤田 昌宏,  

[発表日]2010/2/8
[資料番号]DC2009-69
演算器順序深度削減指向テスト容易化バインディング法(高位レベルテスト・検証,VLSI設計とテスト及び一般)

長 孝昭,  細川 利典,  

[発表日]2010/2/8
[資料番号]DC2009-70
差分による遅延測定法の実行時間と面積の削減(遅延故障テスト,VLSI設計とテスト及び一般)

田辺 融,  湊 浩久,  加藤 健太郎,  難波 一輝,  伊藤 秀男,  

[発表日]2010/2/8
[資料番号]DC2009-71
遷移故障テスト圧縮指向制御ポイント挿入法(遅延故障テスト,VLSI設計とテスト及び一般)

湯本 仁高,  細川 利典,  吉村 正義,  

[発表日]2010/2/8
[資料番号]DC2009-72
3値テストパターンに対する遅延テスト品質計算とX割当について(遅延故障テスト,VLSI設計とテスト及び一般)

奥 慎治,  梶原 誠司,  佐藤 康夫,  宮瀬 紘平,  温 暁青,  

[発表日]2010/2/8
[資料番号]DC2009-73
BISTにおける高品質遅延故障テストのためのシード選択法(遅延故障テスト,VLSI設計とテスト及び一般)

竹谷 啓,  米田 友和,  井上 美智子,  藤原 秀雄,  

[発表日]2010/2/8
[資料番号]DC2009-74
ディジタルフィルタにおける故障の許容性に関する考察(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)

宮口 拓己,  吉川 祐樹,  市原 英行,  井上 智生,  

[発表日]2010/2/8
[資料番号]DC2009-75
部分X分解によるX故障モデルを用いた故障診断手法の高速化(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)

宮瀬 紘平,  中村 優介,  大和 勇太,  温 暁青,  梶原 誠司,  

[発表日]2010/2/8
[資料番号]DC2009-76
TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)

堤 利幸,  刈谷 泰由紀,  山崎 浩二,  橋爪 正樹,  四柳 浩之,  高橋 寛,  樋上 喜信,  高松 雄三,  

[発表日]2010/2/8
[資料番号]DC2009-77
複写される方へ

,  

[発表日]2010/2/8
[資料番号]
奥付

,  

[発表日]2010/2/8
[資料番号]
裏表紙

,  

[発表日]2010/2/8
[資料番号]