| 講演名 | 2010-02-15 3値テストパターンに対する遅延テスト品質計算とX割当について(遅延故障テスト,VLSI設計とテスト及び一般) 奥 慎治, 梶原 誠司, 佐藤 康夫, 宮瀬 紘平, 温 暁青, |
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| 抄録(和) | 本研究では,テストキューブに対する3値の遅延故障シミュレーションにおいて,故障遅延の遅延値の算出手法を提案する.テストキューブのXに論理値を割り当てる前は,各故障を検出可能な遅延値は一意に定まっていない.提案手法は,Xに論理値を割り当てた後のテストパターンで検出可能な遅延値の範囲を算出する.提案手法により,テストキューブのテスト品質の上限を求めることができる.本研究では,さらに,より良い品質のテストパターンが得られるように,遺伝的アルゴリズムを用いたテストキューブのXへの論理値割り当て手法を提案する.最後にベンチマーク回路による実験により提案手法の有効性を示す. |
| 抄録(英) | This paper proposes a method to compute delay values in 3-valued fault simulation for test cubes which are test patterns with unspecified values(Xs). Because the detectable delay size of each fault by a test cube is not fixed before assigning logic values to the Xs in the test cube, the proposed method only computes a range of the detectable delay values of the test patterns covered by the test cubes. By using the proposed method, we derive the lowest and the highest test quality of test patterns covered by the test cubes. Furthermore, we also propose a GA(genetic algorithm)-based method to generate fully specified test patterns with high test quality from test cubes. Experimental results for benchmark circuits show the effectiveness of the proposed methods. |
| キーワード(和) | ディレイテスト / 遷移遅延故障 / SDQM / 故障シミュレーション / テストキューブ |
| キーワード(英) | delay test / transition fault / SDQM / fault simulation / test cube |
| 資料番号 | DC2009-73 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2010/2/8(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 3値テストパターンに対する遅延テスト品質計算とX割当について(遅延故障テスト,VLSI設計とテスト及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | On Calculation of Delay Test Quality for Test Cubes and X-filling |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ディレイテスト / delay test |
| キーワード(2)（和/英） | 遷移遅延故障 / transition fault |
| キーワード(3)（和/英） | SDQM / SDQM |
| キーワード(4)（和/英） | 故障シミュレーション / fault simulation |
| キーワード(5)（和/英） | テストキューブ / test cube |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 奥 慎治 / Shinji OKU |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州工業大学:JST,CREST Kyushu Institute of Technology:JST, CREST |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 梶原 誠司 / Seiji KAJIHARA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 九州工業大学:JST,CREST Kyushu Institute of Technology:JST, CREST |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 佐藤 康夫 / Yasuo SATO |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 九州工業大学:JST,CREST Kyushu Institute of Technology:JST, CREST |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 宮瀬 紘平 / Kohei MIYASE |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 九州工業大学:JST,CREST Kyushu Institute of Technology:JST, CREST |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 温 暁青 / Xiaoqing WEN |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 九州工業大学:JST,CREST Kyushu Institute of Technology:JST, CREST |
| 発表年月日 | 2010-02-15 |
| 資料番号 | DC2009-73 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | 416 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |