基礎・境界/NOLTA-信頼性(開催日:2012/08/16)

タイトル/著者/発表日/資料番号
SWNTを用いた受動モード同期ファイバレーザの高出力化(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)

小野 敬人,  堀 雄一郎,  吉田 真人,  廣岡 俊彦,  中沢 正隆,  真多 淳二,  塚本 遵,  

[発表日]2012/8/16
[資料番号]R2012-38,EMD2012-44,CPM2012-69,OPE2012-76,LQE2012-42
OECC 2012報告 : パッシブデバイス・モジュール関連(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)

神田 淳,  

[発表日]2012/8/16
[資料番号]R2012-39,EMD2012-45,CPM2012-70,OPE2012-77,LQE2012-43
OECC2012報告 : アクティブデバイス(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)

望月 敬太,  

[発表日]2012/8/16
[資料番号]R2012-40,EMD2012-46,CPM2012-71,OPE2012-78,LQE2012-44
小型電気光複合アセンブリを用いたアクティブ光ケーブル(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)

大竹 守,  阿部 真也,  西出 研二,  

[発表日]2012/8/16
[資料番号]R2012-41,EMD2012-47,CPM2012-72,OPE2012-79,LQE2012-45
Ge量子ドットを有するフリースタンディング構造Siマイクロリング共振器の作製とその光学特性の評価(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)

千葉 太一,  徐 学俊,  宇佐美 徳隆,  丸泉 琢也,  白木 靖寛,  

[発表日]2012/8/16
[資料番号]R2012-42,EMD2012-48,CPM2012-73,OPE2012-80,LQE2012-46
ワンチップWDMレシーバに向けた石英系AWGとGe PDのSiプラットフォーム上モノリシック集積(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)

西 英隆,  土澤 泰,  高 磊,  開 達郎,  福田 浩,  石川 靖彦,  和田 一実,  山田 浩治,  

[発表日]2012/8/16
[資料番号]R2012-43,EMD2012-49,CPM2012-74,OPE2012-81,LQE2012-47
シリコン細線光導波路を用いた狭線幅波長可変レーザーの開発(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)

北 智洋,  根本 景太,  山田 博仁,  

[発表日]2012/8/16
[資料番号]R2012-44,EMD2012-50,CPM2012-75,OPE2012-82,LQE2012-48
SiGe/Si細線導波路構造を用いた省電力光スイッチ・可変光減衰器(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)

関口 茂昭,  朱 雷,  倉橋 輝雄,  河口 研一,  森戸 健,  

[発表日]2012/8/16
[資料番号]R2012-45,EMD2012-51,CPM2012-76,OPE2012-83,LQE2012-49
液晶空間光変調器を用いた光スイッチ用高速収差補償アルゴリズム(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)

反本 啓介,  金高 健二,  河島 整,  森 雅彦,  挾間 壽文,  石川 浩,  津田 裕之,  上塚 尚登,  

[発表日]2012/8/16
[資料番号]R2012-46,EMD2012-52,CPM2012-77,OPE2012-84,LQE2012-50
石英系平面光波回路に集積した波長選択スイッチ用空間ビーム変換器(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)

妹尾 和則,  鈴木 賢哉,  大庭 直樹,  渡辺 俊夫,  伊東 雅之,  阪本 匡,  高橋 哲夫,  

[発表日]2012/8/16
[資料番号]R2012-47,EMD2012-53,CPM2012-78,OPE2012-85,LQE2012-51
光空間トランジスタの発明(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)

岡本 研正,  藤田 順一,  渡辺 健人,  細川 浩司,  

[発表日]2012/8/16
[資料番号]R2012-48,EMD2012-54,CPM2012-79,OPE2012-86,LQE2012-52
光空間サイリスタの発明(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)

藤田 順一,  波多江 和喜,  岡本 研正,  

[発表日]2012/8/16
[資料番号]R2012-49,EMD2012-55,CPM2012-80,OPE2012-87,LQE2012-53
光ファイバの機械強度に関する信頼性について : 寿命予測式に関する検討(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)

麻生 修,  松藤 敏夫,  石川 卓哉,  忠隈 昌輝,  乙須 総一郎,  八木 健,  奥 誠人,  

[発表日]2012/8/16
[資料番号]R2012-50,EMD2012-56,CPM2012-81,OPE2012-88,LQE2012-54
ニューテーション試験によるLCコネクタ付光ケーブルの機械耐性評価(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)

阿部 宜輝,  小林 潤也,  柳 秀一,  長瀬 亮,  

[発表日]2012/8/16
[資料番号]R2012-51,EMD2012-57,CPM2012-82,OPE2012-89,LQE2012-55
BOFを用いた光ファイバセンサによる圧力測定(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)

松田 健太郎,  仲川 雄大,  長瀬 亮,  

[発表日]2012/8/16
[資料番号]R2012-52,EMD2012-58,CPM2012-83,OPE2012-90,LQE2012-56
レールと車輪間の電気的接触抵抗が有する半導体特性のモデル化(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)

遠山 喬,  福田 光芳,  大和田 厚祐,  藤田 浩由,  

[発表日]2012/8/16
[資料番号]R2012-53,EMD2012-59,CPM2012-84,OPE2012-91,LQE2012-57
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