| 講演名 | 2012-08-24 ニューテーション試験によるLCコネクタ付光ケーブルの機械耐性評価(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般) 阿部 宜輝, 小林 潤也, 柳 秀一, 長瀬 亮, |
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| 抄録(和) | IEC TC86/SC86Bにおいて、光ケーブルが斜め方向に引っ張られたときの機械的耐性を評価するニューテーション試験の規格化が検討されている。本報告では、ニューテーション試験の規格化に向けて必要となる試験荷重を算定する。さらに、SFP等の光モジュールの汎用インターフェースであるLCコネクタについて、ニューテーション試験により機械耐性を評価し、LCコネクタの機械的耐性を増加させるための構造を明らかにする。 |
| 抄録(英) | Standardization of a nutation test, which is used to estimate mechanical durability of an optical fiber cable when optical fiber cable is pulled obliquely, has been discussed in IEC TC86/SC86B. In this paper, we clarify the tensile force required for the nutation test. We then use the nutation test method to evaluate the mechanical durability of LC connector which is used for optical module interface such as an SFP module. The obtained results enable us to enhance the mechanical durability of the LC connectors. |
| キーワード(和) | 光コネクタ / 光ケーブル / ニューテーション試験 / 機械耐性試験 / LCコネクタ |
| キーワード(英) | Optical connector / Optical cable / Nutation test method / Mechanical durability test / LC connector |
| 資料番号 | R2012-51,EMD2012-57,CPM2012-82,OPE2012-89,LQE2012-55 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
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| 開催期間 | 2012/8/16(から1日開催) |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Reliability(R) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ニューテーション試験によるLCコネクタ付光ケーブルの機械耐性評価(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Mechanical durability of optical fiber cable with LC connector evaluated by nutation test method |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 光コネクタ / Optical connector |
| キーワード(2)（和/英） | 光ケーブル / Optical cable |
| キーワード(3)（和/英） | ニューテーション試験 / Nutation test method |
| キーワード(4)（和/英） | 機械耐性試験 / Mechanical durability test |
| キーワード(5)（和/英） | LCコネクタ / LC connector |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 阿部 宜輝 / Yoshiteru ABE |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所 NTT Photonics Laboratories, NTT Corporation |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 小林 潤也 / Junya KOBAYASHI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所 NTT Photonics Laboratories, NTT Corporation |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 柳 秀一 / Shuichi YANAGI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所 NTT Photonics Laboratories, NTT Corporation |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 長瀬 亮 / Ryo NAGASE |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 千葉工業大学工学部 Faculty of Engineering, Chiba Institute of Technology |
| 発表年月日 | 2012-08-24 |
| 資料番号 | R2012-51,EMD2012-57,CPM2012-82,OPE2012-89,LQE2012-55 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | 180 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |