Presentation | |
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Kentaro Kawabe(Ryukoku Univ.), Toshio Ishizaki(Ryukoku Univ.), [Date]2018-07-19[Paper #]EMT2018-32,MW2018-47,OPE2018-35,EST2018-30,MWP2018-31 | |
Jun Sonoda(NIT, Sendai), Tomoyuki Kimoto(NIT, Oita), [Date]2018-07-19[Paper #]EMT2018-17,MW2018-32,OPE2018-20,EST2018-15,MWP2018-16 | |
Koki Watanabe(Fukuoka Inst. Technol.), Kamin Kangkarn(Fukuoka Inst. Technol.), [Date]2018-07-19[Paper #]EMT2018-20,MW2018-35,OPE2018-23,EST2018-18,MWP2018-19 | |
Nobuhiko Shibagaki(Hitachi Kokusai), Yousuke Sato(Hitachi Kokusai), Kenichi Kasima(Hitachi Kokusai), [Date]2018-07-19[Paper #]EMT2018-11,MW2018-26,OPE2018-14,EST2018-9,MWP2018-10 | |
Yoshie Morimoto(Keio Univ.), Kumi Date(Keio Univ.), Takaaki Ishigure(Keio Univ.), [Date]2018-07-19[Paper #]EMT2018-24,MW2018-39,OPE2018-27,EST2018-22,MWP2018-23 | |
Akihide Sai(Toshiba), Kentaro Yoshioka(Toshiba), Hiroshi Kubota(Toshiba Electronic Devices & Storage), Satoshi Kondo(Toshiba), Tuan Thanh Ta(Toshiba), Hidenori Okuni(Toshiba), Katsuyuki Kimura(Toshiba Electronic Devices & Storage), Yutaka Oota(Toshiba Electronic Devices & Storage), Tomohiro Sugimoto(Toshiba Electronic Devices & Storage), Daisuke Kurose(Toshiba Electronic Devices & Storage), Hirotomo Ishii(Toshiba Electronic Devices & Storage), Nobu Matsumoto(Toshiba Electronic Devices & Storage), [Date]2018-07-19[Paper #]EMT2018-8,MW2018-23,OPE2018-11,EST2018-6,MWP2018-7 | |
Takumi Sugitani(Mitsubishi Electric Corp.), Kazuhiro Iyomasa(Mitsubishi Electric Corp.), Masatake Hangai(Mitsubishi Electric Corp.), Yoshifumi Kawamura(Mitsubishi Electric Corp.), Jun Nishihara(Mitsubishi Electric Corp.), Shintaro Shinjo(Mitsubishi Electric Corp.), [Date]2018-07-20[Paper #]EMT2018-39,MW2018-54,OPE2018-42,EST2018-37,MWP2018-38 | |
Shunsuke Abe(Advantest Labs.), Hideo Hara(Advantest Labs.), Shin Masuda(Advantest Labs.), Masayuki Kimishima(Advantest Labs.), [Date]2018-07-20[Paper #]EMT2018-33,MW2018-48,OPE2018-36,EST2018-31,MWP2018-32 | |
Toshiki Kamiya(NITech), Jose Gomez-Tames(NITech), Sachiko Kodera(NITech), Akimasa Hirata(NITech), [Date]2018-07-20[Paper #]EMT2018-42,MW2018-57,OPE2018-45,EST2018-40,MWP2018-41 | |
Tetsu Takahashi(UEC), Satoshi Ono(UEC), Koji Wada(UEC), [Date]2018-07-20[Paper #]EMT2018-34,MW2018-49,OPE2018-37,EST2018-32,MWP2018-33 | |
Takashi Kuroki(Tokyo Metro. Col. of Ind. Tech.), Toshihiko Shibazaki(Tokyo Metro. Col. of Ind. Tech.), Teruhiro Kinoshita(Tokyo Polytech. Univ.), [Date]2018-07-20[Paper #]EMT2018-40,MW2018-55,OPE2018-43,EST2018-38,MWP2018-39 | |
Shingo Kawamura(Muroran Inst. Technol.), Yasuhide Tsuji(Muroran Inst. Technol.), [Date]2018-07-20[Paper #]EMT2018-37,MW2018-52,OPE2018-40,EST2018-35,MWP2018-36 | |
Eisuke Haraguchi(MitsubishiElectric Corp.), Akihiro Fujie(MitsubishiElectric Corp.), Kiyotomo Hasegawa(MitsubishiElectric Corp.), Keita Mochizuki(MitsubishiElectric Corp.), Yuto Ueno(MitsubishiElectric Corp.), Toshiyuki Ando(MitsubishiElectric Corp.), [Date]2018-07-20[Paper #]EMT2018-38,MW2018-53,OPE2018-41,EST2018-36,MWP2018-37 | |
Takuichi Hirano(Tokyo City Univ.), [Date]2018-07-20[Paper #]EMT2018-36,MW2018-51,OPE2018-39,EST2018-34,MWP2018-35 | |
Naruto Yonemoto(ENRI/MPAT), Akiko Kohmura(ENRI/MPAT), Shunichi Futatsumori(ENRI/MPAT), Kazuyuki Morioka(ENRI/MPAT), Naoki Kanada(ENRI/MPAT), [Date]2018-07-20[Paper #]EMT2018-41,MW2018-56,OPE2018-44,EST2018-39,MWP2018-40 | |
Amane Takei(UOM), Toshio Murayama(Sony GM&O), Hiroshi Kanayama(JWU), Shinobu Yoshimura(UT), [Date]2018-07-20[Paper #]EMT2018-35,MW2018-50,OPE2018-38,EST2018-33,MWP2018-34 | |
Akihiro Tsubouchi(Ryukoku Univ), Toshio Ishizaki(Ryukoku Univ), [Date]2018-07-20[Paper #]EMT2018-43,MW2018-58,OPE2018-46,EST2018-41,MWP2018-42 |