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信頼性研究会(R) [schedule] [select]
専門委員長 木村 光宏 (法政大)
副委員長 馬渡 宏泰 (NTT)
幹事 安里 彰 (富士通), 岡村 寛之 (広島大)
幹事補佐 田村 信幸 (法政大), マラット ザニケエフ (九工大)

日時 2013年 6月14日(金) 13:30 - 15:10
議題 電子・電気機器の信頼性,故障解析,劣化診断,信頼性一般 
会場名 機械振興会館 
住所 〒105-0011 東京都港区芝公園3-5-8
交通案内 営団地下鉄日比谷線神谷町駅下車徒歩10分 他
https://www.ieice.org/jpn/about/syozai.html
会場世話人
連絡先
田村信幸
042-387-6262
他の共催 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 日本信頼性学会協賛
著作権に
ついて
以下の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

6月14日(金) 午後 
13:30 - 15:10
(1) 13:30-13:55 ジャンクション温度変化によるLEDの劣化診断 R2013-16 角本雄一村上和也安達健二東芝
(2) 13:55-14:20 ネットワーク機器のTDR法によるケーブル故障診断方式の検討 R2013-17 桑原 崇明星慶洋三菱電機)・斉藤成一サレジオ高専
(3) 14:20-14:45 Black Swan Strategies for Performance Management of Large-Scale Clouds R2013-18 Marat ZhanikeevKyushu Inst. of Tech.
(4) 14:45-15:10 システムワークロードに基づいた最適チェックポイント配置 R2013-19 土井優希・○土肥 正広島大

講演時間
一般講演発表 20 分 + 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
R 信頼性研究会(R)   [今後の予定はこちら]
問合先 田村信幸(法政大学)
TEL 042-387-6262
FAX 042-387-6126
E--mail: i 


Last modified: 2013-04-12 20:58:53


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