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信頼性研究会（R） [schedule] [select]
専門委員長 木村 光宏 (法政大)
副委員長 馬渡 宏泰 (NTT)
幹事 安里 彰 (富士通)， 岡村 寛之 (広島大)
幹事補佐 田村 信幸 (法政大)， マラット ザニケエフ (九工大)

日時 2013年 6月14日(金)　13:30 - 15:10
議題 電子・電気機器の信頼性，故障解析，劣化診断，信頼性一般 
会場名 機械振興会館 
住所 〒105-0011 東京都港区芝公園3-5-8
交通案内 営団地下鉄日比谷線神谷町駅下車徒歩１０分 他
https://www.ieice.org/jpn/about/syozai.html
会場世話人
連絡先		 田村信幸
042-387-6262
他の共催 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 日本信頼性学会協賛

6月14日(金) 午後 
13:30 - 15:10
(1) 13:30-13:55 ジャンクション温度変化によるLEDの劣化診断 ○角本雄一・村上和也・安達健二（東芝）
(2) 13:55-14:20 ネットワーク機器のTDR法によるケーブル故障診断方式の検討 ○桑原　崇・明星慶洋（三菱電機）・斉藤成一（サレジオ高専）
(3) 14:20-14:45 Black Swan Strategies for Performance Management of Large-Scale Clouds ○Marat Zhanikeev（Kyushu Inst. of Tech.）
(4) 14:45-15:10 システムワークロードに基づいた最適チェックポイント配置 土井優希・○土肥　正（広島大）

講演時間
一般講演発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
R 信頼性研究会（R）   [今後の予定はこちら]
問合先 田村信幸（法政大学）
TEL 042-387-6262
FAX 042-387-6126
E--mail: i 


Last modified: 2013-04-12 20:58:53


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