| 11月21日 | |
|---|---|
| 09:30 - | 受付開始 |
| 10:20 - 10:30 | オープニング |
| 10:30 - 11:15 | オーラルセッション1 |
| 11:15 - 11:45 | 企業講演1 |
| 11:45 - 13:00 | 昼食 |
| 13:00 - 14:00 | BioX研企画セッション1 |
| 14:00 - 14:15 | 休憩 |
| 14:15 - 16:15 | ポスターセッション1 |
| 16:15 - 16:30 | 休憩 |
| 16:30 - 17:30 | 招待講演1 |
| 18:00 - 20:00 | 懇親会(成蹊大学6号館B1階カフェ&ホール COMMichi) |
| 11月22日 | |
|---|---|
| 09:30 - | 受付開始 |
| 10:00 - 12:00 | ポスターセッション2 |
| 12:00 - 13:00 | 昼食 |
| 13:00 - 14:00 | 招待講演2 |
| 14:00 - 14:15 | 休憩 |
| 14:15 - 15:00 | オーラルセッション2 |
| 15:00 - 15:30 | 企業講演2 |
| 15:30 - 15:45 | 休憩 |
| 15:45 - 16:45 | BioX研企画セッション2 |
| 16:45 - 17:00 | クロージング・表彰式 |
金 杰 (静岡大学大学院総合科学技術研究科),佐藤 佑哉 (静岡大学大学院総合科学技術研究科),西垣 正勝 (静岡大学大学院総合科学技術研究科),大木 哲史 (静岡大学大学院総合科学技術研究科 / 理研AIP)
岡野 真空 (静岡大学),柳生 航平 (静岡大学),伊藤 康一 (東北大学),西垣 正勝 (静岡大学大学院総合科学技術研究科),大木 哲史 (静岡大学大学院総合科学技術研究科 / 理研AIP)
木村 大城 (東北大学 大学院情報科学研究科),幸田 芳紀 (東北大学 大学院情報科学研究科),伊藤 康一 (東北大学),青木 孝文 (東北大学)
中野和也(成蹊大学理工学部理工学科)
講演者がこれまでヘルスケアや医工学分野への応用を目的として取り組んできた光学や画像処理に基づく研究を中心にお話する.
海老原章記(NECバイオメトリクス研究所)
生体認証ゲートや医療診断、自動運転など、「可能な限り早期に適切な意思決定を行う」ことが求められる状況は多い。最適な早期分類を行うことができるアルゴリズムとしては、Sequential Probability Ratio Test (SPRT) があるが、系列データの真の確率分布が必要となる、系列データが独立同分布に従うことを仮定するなど、実用上の障壁が多かった。そこで我々は、独立・非独立を問わない一般の系列データから逐次的に尤度比推定を行うことでSPRTを実現するアルゴリズム:SPRT-TANDEMを提案し、実世界データにおいてより最適な意思決定を可能にするアルゴリズムへと開発してきた。講演では、SPRT-TANDEMのこれまでの発展と今後の展望について解説する。
井元 大輔 (科学警察研究所),浅野 雅人 (科学警察研究所),櫻井 航 (科学警察研究所),本間 正勝 (科学警察研究所),黒沢 健至 (科学警察研究所)
富永 栞 (名古屋市立大学・総合生命理学部),上野 新也 (名古屋市立大学・医学研究科),飛田 秀樹 (名古屋市立大学・医学研究科),渡邊 裕司 (名古屋市立大学・理学研究科)
中村 渉 (株式会社日立製作所),高橋 健太 (株式会社日立製作所)
新村 文郷 (成蹊大学),村松 大吾 (成蹊大学)
藤田 真浩 (三菱電機株式会社),金岡 晃 (東邦大学),吉村 礼子 (三菱電機株式会社)
大川 学 (警視庁)
黒田 凌介 (富山県立大学),高野 博史 (富山県立大学)
Numada Kota (Shizuoka University),Nozaki Shinnosuke (Shizuoka University),Takaiwa Takumi (Shizuoka University),Ohki Tetsushi (Shizuoka University),Nishigaki Masakatsu (Shizuoka University)
Hirai Yuki (FUJIFILM Corporation),Nojiri Mayumi (FUJIFILM Corporation),Muramatsu Ayako (FUJIFILM Corporation),Morishima Shinichi (FUJIFILM Corporation),Akiyama Fukuo (FUJIFILM Corporation)
Iwahashi Akira (Yokohama National University),Miyamoto Iwaki (Yokohama National University),Yoshida Naoki (Yokohama National University),Matsumoto Tsutomu (Yokohama National University)
Nozaki Shinnosuke (Shizuoka University),Takaiwa Takumi (Shizuoka University),Fujita Masahiro (Mitsubishi Electric Corporation),Yoshimura Ayako (Mitsubishi Electric Corporation),Ohki Tetsushi (Shizuoka University),Nishigaki Masakatsu (Shizuoka University)
綿引 凌 (Aoyama Gakuin University),金子 直史 (Tokyo Denki University),鷲見 和彦 (Aoyama Gakuin University)
Sakamoto Shizuo (NEC Corporation)
Li Xiang (Osaka University),Makihara Yasushi (Osaka University),Xu Chi (Osaka University),Yagi Yasushi (Osaka University)
Xu Chi (Osaka University),Tsuji Shogo (Osaka University),Makihara Yasushi (Osaka University),Li Xiang (Osaka University),Yagi Yasushi (Osaka University)
Xu Chi (Osaka University),Makihara Yasushi (Osaka University),Li Xiang (Osaka University),Yagi Yasushi (Osaka University)
Xu Chi (Osaka University),Makihara Yasushi (Osaka University),Li Xiang (Osaka University),Yagi Yasushi (Osaka University)
金 杰 (静岡大学大学院総合科学技術研究科),佐藤 佑哉 (静岡大学大学院総合科学技術研究科),西垣 正勝 (静岡大学大学院総合科学技術研究科),大木 哲史 (静岡大学大学院総合科学技術研究科 / 理研AIP)
岡野 真空 (静岡大学),柳生 航平 (静岡大学),伊藤 康一 (東北大学),西垣 正勝 (静岡大学大学院総合科学技術研究科),大木 哲史 (静岡大学大学院総合科学技術研究科 / 理研AIP)
木村 大城 (東北大学 大学院情報科学研究科),幸田 芳紀 (東北大学 大学院情報科学研究科),伊藤 康一 (東北大学),青木 孝文 (東北大学)
今岡 仁(NECフェロー)
令和5年春紫綬褒章受章を受けて、研究開発の歩みと今後の取り組みについて話します。 自身の研究を年表に基づいて振り返り、最新の動向やヘルスケア分野での新しい挑戦に焦点を当てます。 本講演が「何も持たずに個人を認めてもらえる社会」の実現に向けた、顔認証の未来についての議論を促進する一助となることを願っています。
黒木 健志 (東京電機大学),大山 航 (東京電機大学)
河村 健太郎 (東京電機大学),小篠 裕子 (東京電機大学)
Kudo Yuta (NEC Biometrics Research Laboratories),Morishita Yusuke (NEC Biometrics Research Laboratories)
張 月 (名古屋市立大学),渡邊 裕司 (名古屋市立大学・理学研究科)
前田 壮志 (静岡大学),西垣 正勝 (静岡大学大学院総合科学技術研究科),大木 哲史 (静岡大学大学院総合科学技術研究科 / 理研AIP)
Ouchi Yumo (Fujitsu Limited),Uchida Hidetsugu (Fujitsu Limited),Abe Narishige (Fujitsu Limited)
巻島 英二朗 (成蹊大学),新村 文郷 (成蹊大学),村松 大吾 (成蹊大学)
北野 和哉 (奈良先端科学技術大学院大学),ビンダー ヨハネス (奈良先端科学技術大学院大学),石山 塁 (日本電気株式会社),舩冨 卓哉 (奈良先端科学技術大学院大学),向川 康博 (奈良先端科学技術大学院大学)
帖地 俊平 (東京電機大学),小篠 裕子 (東京電機大学)
Takaiwa Takumi (Shizuoka University),Nozaki Shinnosuke (Shizuoka University),Numada Kota (Shizuoka University),Shibata Tsubasa (Shizuoka University),Okumura Sana (Shizuoka University),Takigawa Soichi (Shizuoka University),Ohki Tetsushi (Shizuoka University),Nishigaki Masakatsu (Shizuoka University)
山上 礼夢 (富山県立大学),高野 博史 (富山県立大学)
Hirose Tomoaki (Toyama Prefectural University),Takano Hironobu (Toyama Prefectural University)
石山 塁 (日本電気株式会社),フリューラン ペル (レトラムス株式会社),ウヴレボトン スタイン (レトラムス株式会社)
木下 集人 (北九州市立大学大学院),山崎 恭 (北九州市立大学)
Shehata Allam (Osaka University/Electronics Research Institute),Alsherfawi Ammar (Osaka University),Gaher Levin (RWTH Aachen University/Osaka University),Li Xiang (Osaka University),Makihara Yasushi (Osaka University),Yagi Yasushi (Osaka University)
Shehata Allam (Osaka University/Electronics Research Institute),Makihara Yasushi (Osaka University),Muramatsu Daigo (Seikei University),Ahad Rahman Atiq Md (University of East London),Yagi Yasushi (Osaka University)
Alsherfawi Ammar (Osaka University),Makihara Yasushi (Osaka University),Muramatsu Daigo (Seikei University),Yagi Yasushi (Osaka University)
安川 洵 (大阪大学/NEC),槇原 靖 (大阪大学),八児 正次 (北原リハビリテーション病院),亀田 佳一 (北原リハビリテーション病院),細井 利憲 (NEC),久保 雅洋 (NEC),八木 康史 (大阪大学)
渡邉 宣友 (名古屋市立大学),渡邊 裕司 (名古屋市立大学・理学研究科)
塙 剛生 (東北大学),伊藤 康一 (東北大学),青木 孝文 (東北大学),大木 哲史 (静岡大学大学院総合科学技術研究科 / 理研AIP),西垣 正勝 (静岡大学大学院総合科学技術研究科)
松本 勉(横浜国立大学・環境情報研究院 教授 / 産業技術総合研究所 サイバーフィジカルセキュリティ研究センター長)
人工物メトリクス(Artifact metricsまたはArtefact metrics)は、個体に固有の物理的特徴を測定し活用する技術である。この技術による照合や識別に基づく個体管理技術は、製品や部品の製造・流通に係るサプライチェーンおける個体管理や模倣品対策として利用されるようになってきた。人工物メトリクスの適合性、信頼性、有効性を認定するためのプロセス等を定めた国際標準規格 ISO22387:2022 が出版され、この技術に対する国際的な認知度が高まっている。本講演では、人工物メトリクス技術の仕組みや具体的方式の発展の経緯と、チャレンジすべき課題、そして今後の応用の展望につき解説する。
Yokokura Kaiya (Tokyo University of Technology),Wu Bo (Tokyo University of Technology),Sato Kiminori (Tokyo University of Technology)
渡邉 宣友 (名古屋市立大学),渡邊 裕司 (名古屋市立大学・理学研究科)
塙 剛生 (東北大学),伊藤 康一 (東北大学),青木 孝文 (東北大学),大木 哲史 (静岡大学大学院総合科学技術研究科 / 理研AIP),西垣 正勝 (静岡大学大学院総合科学技術研究科)
松濤智明(富士通(株) 富士通研究所 データ&セキュリティ研究所)
環境クラスタを用いた学習による顔のなりすまし検知について 講演概要:顔認証技術においては、写真などの偽造物を用いたなりすまし攻撃の危険性があり、撮影された顔が本物か偽造物かを判定するなりすまし検知技術が求められている。本研究では、多様な撮影機種や光源環境に対応したなりすまし検知を実現するために、学習データを撮影環境ごとにクラスタリングして識別モデルを学習する方法を提案する。
小平孝之(三菱電機株式会社 情報技術総合研究所 情報表現技術部 社会安全高信頼化技術グループ)
社会の安全安心の実現に向けて、私の課で取り組んでいる研究テーマである人物の骨格を用いた危険行動検知に関する研究内容を紹介したいと思います。