情報・システム-ディペンダブルコンピューティング(開催日:2011/06/17)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

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[発表日]2011/6/17
[資料番号]
目次

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[発表日]2011/6/17
[資料番号]
ランダムパターンテストにおける故障検出率分布に関する考察(設計/テスト/検証)

福本 聡,  新井 雅之,  原 慎哉,  岩崎 一彦,  

[発表日]2011/6/17
[資料番号]DC2011-8
テスト可能な応答圧縮器におけるマルチサイクルシグネチャの効果について(設計/テスト/検証)

深澤 祐樹,  市原 英行,  井上 智生,  

[発表日]2011/6/17
[資料番号]DC2011-9
VLSIの製造バラつきと経年劣化を考慮したアダプティブフィールドテストにおけるパス選択結果における一考察(設計/テスト/検証)

柏崎 智史,  細川 利典,  吉村 正義,  

[発表日]2011/6/17
[資料番号]DC2011-10
国際会議報告 : VTS2011(29th IEEE VLSI Test Symposium)(設計/テスト/検証)

畠山 一実,  

[発表日]2011/6/17
[資料番号]DC2011-11
ケアビット分布制御ドントケア抽出 : キャプチャ消費電力削減への適用(設計/テスト/検証)

山崎 紘史,  細川 利典,  吉村 正義,  

[発表日]2011/6/17
[資料番号]DC2011-12
テストベクトル変換手法を用いた低消費電力LOS実速度テスト(設計/テスト/検証)

宮瀬 紘平,  内之段 裕太,  榎元 和成,  大和 勇太,  温 暁青,  梶原 誠司,  Wu Fangmei,  Dilillo Luigi,  Bosio Alberto,  Girard Patrick,  Virazel Arnaud,  

[発表日]2011/6/17
[資料番号]DC2011-13
複写される方へ

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[発表日]2011/6/17
[資料番号]
奥付

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[発表日]2011/6/17
[資料番号]
裏表紙

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[発表日]2011/6/17
[資料番号]