| 講演名 | 2011-06-24 ケアビット分布制御ドントケア抽出 : キャプチャ消費電力削減への適用(設計/テスト/検証) 山崎 紘史, 細川 利典, 吉村 正義, |
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| 抄録(和) | 近年VLSIの大規模化,複雑化に伴い,テストパターン数の増大、故障モデルの多様化,テスト時の過剰な消費電力による誤テストが問題となっている.それらの問題を解決するために高品質,低コスト,低消費電力用のテスト生成が必要となっている.高品質,低コスト,低消費電力のテスト生成を実現する手法の一つとしてドントケア抽出技術が存在する.しかしながら,従来のドントケア抽出技術では特定のテストパターンや擬似外部入力にドントケアビットが偏り,スキャンテストにおけるキャプチャ消費電力の削減やチップ温度均一化などの適用分野に効果的でない可能性がある.本論文では,入力されたテストパターン集合に対しケアビットを制御したドントケア抽出法を提案する.ITC'99ベンチマーク回路を用いて,本手法によってドントケア抽出したテストパターン集合に対して,低キャプチャ消費電力指向ドントケア割当てを適用し,キャプチャセーフ判定を行ったので報告する. |
| 抄録(英) | The growing density and complexity for VLSIs recently cause an increase in the numbers of test patterns and fault models to be tested, and significant capture-induced yield loss by excessive high power dissipation. Test generations for high quality, low cost and low power dissipation are required to solve these problems. One of means to implement such test generations is don't care identification technique. However, in conventional don't care identification techniques, don't care bits tend to concentrate on specific test patterns and/or pseudo primary inputs. Therefore, the techniques may not be effective for application fields such as capture power reduction and thermal-uniformity on scan testing. In this paper, we propose a don't care identification method to control care bit distribution for an initial test pattern set. Experimental results for ITC'99 benchmark circuits show that our proposed method is effective for capture power reduction. |
| キーワード(和) | ドントケア抽出 / ケアビット分布 / 疑似外部入力 / キャプチャ時消費電力削減 / キャプチャセーフ |
| キーワード(英) | don't care identification / care bit distribution / pseudo primary inputs / capture power reduction / capture-safe |
| 資料番号 | DC2011-12 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2011/6/17(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ケアビット分布制御ドントケア抽出 : キャプチャ消費電力削減への適用(設計/テスト/検証) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A don't care identification method with care bit distribution control : Application to capture power reduction |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ドントケア抽出 / don't care identification |
| キーワード(2)（和/英） | ケアビット分布 / care bit distribution |
| キーワード(3)（和/英） | 疑似外部入力 / pseudo primary inputs |
| キーワード(4)（和/英） | キャプチャ時消費電力削減 / capture power reduction |
| キーワード(5)（和/英） | キャプチャセーフ / capture-safe |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 山崎 紘史 / Hiroshi Yamazaki |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本大学大学院生産工学研究科 Graduate School of Industrial Technology, Nihon University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 細川 利典 / Toshinori HOSOKAWA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本大学生産工学部 College of Industrial Technology, Nihon University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 吉村 正義 / Masayoshi YOSHIMURA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 九州大学大学院システム情報科学研究院 Faculty of Engineering, Kyushu University |
| 発表年月日 | 2011-06-24 |
| 資料番号 | DC2011-12 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | 100 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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