情報・システム-ディペンダブルコンピューティング(開催日:2009/02/09)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

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[発表日]2009/2/9
[資料番号]
目次

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[発表日]2009/2/9
[資料番号]
故障の許容性に基づくテスト生成アルゴリズムの高速化(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)

中島 佑介,  吉川 祐樹,  市原 英行,  井上 智生,  

[発表日]2009/2/9
[資料番号]DC2008-68
スキャンテストにおけるテスト不可能故障の検出を削減するためのテスト生成法(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)

吉村 正義,  小河 宏志,  大森 悠翔,  細川 利典,  山崎 浩二,  

[発表日]2009/2/9
[資料番号]DC2008-69
SATを用いたATPG困難故障に対する冗長故障判定の高速化(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)

秋山 祐介,  細川 利典,  吉村 正義,  山崎 浩二,  

[発表日]2009/2/9
[資料番号]DC2008-70
算盤アーキテクチャを用いた10進加算器とその剰余演算への応用(高速・高信頼化設計,VLSI設計とテスト及び一般)

飯島 唯仁,  魏 書剛,  

[発表日]2009/2/9
[資料番号]DC2008-71
高信頼度ボランティアコンピューティングのためのヒストリ情報を用いたスケジューリング手法(高速・高信頼化設計,VLSI設計とテスト及び一般)

藤田 諒,  渡邊 寛,  福士 将,  堀口 進,  

[発表日]2009/2/9
[資料番号]DC2008-72
組合せ回路に対する欠陥考慮テストパターンの一生成法(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)

高橋 寛,  樋上 喜信,  和泉 太佑,  相京 隆,  高松 雄三,  

[発表日]2009/2/9
[資料番号]DC2008-73
隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)

渡部 哲也,  高橋 寛,  樋上 喜信,  堤 利幸,  山崎 浩二,  四柳 浩之,  橋爪 正樹,  高松 雄三,  

[発表日]2009/2/9
[資料番号]DC2008-74
ゲート内抵抗性オープン欠陥に対する微小遅延故障モデル(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)

新井 雅之,  周藤 明史,  岩崎 一彦,  中野 勝幸,  新谷 道広,  畠山 一実,  相京 隆,  

[発表日]2009/2/9
[資料番号]DC2008-75
検出容易故障に着目したドントケア数増加手法 : BASTアーキテクチャへの適用(スキャンテスト・テスト容易化高位合成,VLSI設計とテスト及び一般)

万 玲玲,  若園 大洋,  細川 利典,  吉村 正義,  

[発表日]2009/2/9
[資料番号]DC2008-76
RTLパス数最小化のためのリソースバインディング法(スキャンテスト・テスト容易化高位合成,VLSI設計とテスト及び一般)

植本 雄一,  大竹 哲史,  井上 美智子,  藤原 秀雄,  

[発表日]2009/2/9
[資料番号]DC2008-77
A Secure Scan Design Approach Using Extended de Bruijn Graph

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[発表日]2009/2/9
[資料番号]DC2008-78
複写される方へ

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[発表日]2009/2/9
[資料番号]
Notice for Photocopying

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[発表日]2009/2/9
[資料番号]
奥付

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[発表日]2009/2/9
[資料番号]