基礎・境界/NOLTA-信頼性(開催日:2009/02/13)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

,  

[発表日]2009/2/13
[資料番号]
目次

,  

[発表日]2009/2/13
[資料番号]
錫および銀めっき電気接点における接触抵抗挙動解析(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

澤田 滋,  清水 佳織,  服部 康弘,  玉井 輝雄,  

[発表日]2009/2/13
[資料番号]R2008-44,EMD2008-120
錫(Sn)めっき表面の酸化皮膜の成長と接触抵抗特性 : エリプソメトリによる研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

鍋田 佑也,  斎藤 寧,  澤田 滋,  服部 康弘,  玉井 輝雄,  

[発表日]2009/2/13
[資料番号]R2008-45,EMD2008-121
Snめっきの高温放置における酸化被膜成長と接触抵抗特性についての検討(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

富永 裕一,  山中 拓哉,  齋藤 寧,  玉井 輝雄,  飯田 和生,  服部 康弘,  

[発表日]2009/2/13
[資料番号]R2008-46,EMD2008-122
微摺動摩耗によるコネクタ寿命の研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

伊藤 大二,  池田 博榮,  齋藤 寧,  玉井 輝雄,  飯田 和生,  伊藤 哲也,  服部 康弘,  

[発表日]2009/2/13
[資料番号]R2008-47,EMD2008-123
錫めっき微摺動接点の微細構造観察(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

伊藤 哲也,  澤田 滋,  野村 良行,  服部 康弘,  齋藤 寧,  玉井 輝雄,  飯田 和生,  

[発表日]2009/2/13
[資料番号]R2008-48,EMD2008-124
光切断法を応用した電極表面形状の評価システムに関する実験的検討(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

柏倉 誠,  工藤 駿佑,  須藤 あすか,  長谷川 誠,  

[発表日]2009/2/13
[資料番号]R2008-49,EMD2008-125
ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その4)(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

和田 真一,  園田 健人,  越田 圭治,  菊地 光男,  久保田 洋彰,  澤 孝一郎,  

[発表日]2009/2/13
[資料番号]R2008-50,EMD2008-126
はんだ接続点における鉛フリーはんだの引張強度解析(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

橋口 卓,  奈須川 佑太,  平岡 一則,  

[発表日]2009/2/13
[資料番号]R2008-51,EMD2008-127
シリコーンによる電気接点接触障害の評価技術(1) : 新たな評価装置を用いた環境評価試験について(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

森井 真喜人,  森脇 弘之,  田中 秀樹,  植木 義貴,  鈴木 健嗣,  吉住 公男,  西川 昌伸,  

[発表日]2009/2/13
[資料番号]R2008-52,EMD2008-128
シリコーン蒸気汚染による接触不良発生の電気回路条件依存性(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

玉井 輝雄,  

[発表日]2009/2/13
[資料番号]R2008-53,EMD2008-129
リレー接点の接触抵抗特性に対するシリコーン系及び非シリコーン系ポリマー硬化物の影響に関する実験的検討(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

長谷川 誠,  松藤 卓真,  河野 良行,  安藤 寛,  

[発表日]2009/2/13
[資料番号]R2008-54,EMD2008-130
赤りん系難燃剤採用樹脂の機構部品に及ぼす影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

伊藤 貞則,  

[発表日]2009/2/13
[資料番号]R2008-55,EMD2008-131
放送設備における漂遊金属と耐雷対策(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

若井 一顕,  澤栗 裕二,  

[発表日]2009/2/13
[資料番号]R2008-56,EMD2008-132
SC及びMU形光コネクタの屋外環境下での信頼性評価(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

阿部 宜輝,  柳 秀一,  浅川 修一郎,  長瀬 亮,  

[発表日]2009/2/13
[資料番号]R2008-57,EMD2008-133
複写される方へ

,  

[発表日]2009/2/13
[資料番号]
Notice for photocopying

,  

[発表日]2009/2/13
[資料番号]
奥付

,  

[発表日]2009/2/13
[資料番号]