基礎・境界/NOLTA-信頼性(開催日:1994/11/18)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

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[発表日]1994/11/18
[資料番号]
目次

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[発表日]1994/11/18
[資料番号]
接触抵抗におよぼす有機ガス成分の影響

竹中 豊,  船木 健治,  島田 真吾,  

[発表日]1994/11/18
[資料番号]R94-37
宇宙用薄型ダイオードの故障率予測

内田 泰徳,  上村 邦夫,  島田 啓二,  

[発表日]1994/11/18
[資料番号]R94-38
ファインピッチパッケージ及び表面実装部品の実装評価

田中 康夫,  中井 宗明,  村上 鑑,  

[発表日]1994/11/18
[資料番号]R94-39
窒化膜容量素子のTDDB評価

登川 一郎,  和田 哲明,  

[発表日]1994/11/18
[資料番号]R94-40
極薄シリコン酸化膜の経時絶縁劣化(TDDD)

木村 幹広,  益子 洋治,  三橋 順一,  

[発表日]1994/11/18
[資料番号]R94-41
Via付Al配線のEM耐性

中野 真治,  和田 哲明,  

[発表日]1994/11/18
[資料番号]R94-42
高速リングオシレータ動作におけるMOSEFTのホットキャリア劣化

森井 知行,  浦岡 行治,  畑田 賢造,  

[発表日]1994/11/18
[資料番号]R94-43
P-N接合の経時劣化現象

三橋 順一,  渡部 元,  小守 純子,  

[発表日]1994/11/18
[資料番号]R94-44
[OTHERS]

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[発表日]1994/11/18
[資料番号]