エレクトロニクス-電子部品・材料(開催日：2001/12/13)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

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[発表日]2001/12/13
[資料番号]
目次

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[発表日]2001/12/13
[資料番号]
EB・FIB統合化テストシステム(<特集テーマ>:「LSIシステムの実装・モジュール化, テスト技術, 一般)

中前 幸治,  藤岡 弘,  

[発表日]2001/12/13
[資料番号]CPM-115,ICD-167
コンダクティングAFMによる微小領域の故障診断技術(<特集テーマ>:「LSIシステムの実装・モジュール化, テスト技術, 一般)

前田 一史,  今井 ゆかり,  小山 徹,  福本 晃二,  益子 洋治,  

[発表日]2001/12/13
[資料番号]CPM-116,ICD-168
走査型プローブ顕微鏡を用いたLSIの電気特性評価(<特集テーマ>:「LSIシステムの実装・モジュール化, テスト技術, 一般)

近藤 和昭,  大谷 成元,  吉田 親子,  

[発表日]2001/12/13
[資料番号]CPM-117,ICD-169
LSI裏面からのTEM試料抽出による不良解析技術(<特集テーマ>:「LSIシステムの実装・モジュール化, テスト技術, 一般)

前田 一史,  古田 正昭,  橋川 直人,  廣瀬 幸範,  福本 晃二,  益子 洋治,  

[発表日]2001/12/13
[資料番号]CPM-118,ICD-170
超低消費電力ワイヤレス機器向け高効率安定化電源回路の検討(<特集テーマ>:「LSIシステムの実装・モジュール化, テスト技術, 一般)

樋口 浩太朗,  中司 賢一,  黒木 幸令,  

[発表日]2001/12/13
[資料番号]CPM-119,ICD-171
GAを用いたITC符号化プロセッサ : アーキテクチャの提案(1)(<特集テーマ>:「LSIシステムの実装・モジュール化, テスト技術, 一般)

古川 剛史,  石川 知雄,  宮内 新,  

[発表日]2001/12/13
[資料番号]CPM-120,ICD-172
3次元積層モジュールにおける熱設計(<特集テーマ>:「LSIシステムの実装・モジュール化, テスト技術, 一般)

山地 泰弘,  安藤 達也,  森藤 忠洋,  佐藤 知稔,  高橋 健司,  

[発表日]2001/12/13
[資料番号]CPM-121,ICD-173
[OTHERS]

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[発表日]2001/12/13
[資料番号]