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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2018-02-20 11:40 |
東京 | 機械振興会館 | kサイクルテストに基づく有限状態機械のテスト生成法 ○木下湧矢・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大）  DC2017-81 |
半導体集積技術の発達に伴い，VLSIの大規模化，複雑化が急速に進んでいる．これに伴い，効率の良い順序回路のテスト生成技術... [more] | DC2017-81 pp.25-30 |
| DC | 2017-02-21 14:25 |
東京 | 機械振興会館 | 到達不能状態を用いたSATベース順序回路のテスト不能故障判定法 ○二関森人・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） DC2016-79 |
スキャン設計回路は，ハードウェアオーバヘッドやテスト実行時間の増加が課題として挙げられている．上述の課題を解決するために... [more] | DC2016-79 pp.29-34 |
| DC | 2016-06-20 15:15 |
東京 | 機械振興会館 | テスト容易化機能的時間展開モデル生成のためのテスト容易化バインディング法 ○佐藤 護・細川利典・増田哲也・西間木 淳（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2016-14 |
データパスを対象とした効率的なテスト生成手法として，テスト容易化機能的時間展開モデルを用いたテスト生成法が提案されている... [more] | DC2016-14 pp.25-30 |
| DC | 2014-06-20 16:25 |
東京 | 機械振興会館 | 機能的k時間展開モデルのテスト容易性評価 ○増田哲也・西間木 淳・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2014-17 |
データパスを対象とした効率的なテスト生成手法として，機能的k時間展開モデルを用いたテスト生成法が提案されている．機能的k... [more] | DC2014-17 pp.45-50 |
| RCS, SR, SRW (併催) |
2014-03-04 11:05 |
東京 | 早稲田大学 | 920 MHz帯無線通信制御によるDC電力ルーティング実験システム ○野上侑馬・小林啓洋・門 勇一（京都工繊大）・山崎幹夫（NTTファシリティーズ総研）・松本 暁・加賀雅人（NTTファシリティーズ） SRW2013-49 |
現在日本の電力網の問題として、自然エネルギー大量導入による系統の不安定化や災害時の大規模停電などが挙げられる。データセン... [more] | SRW2013-49 pp.31-35 |
| DC | 2013-06-21 13:45 |
東京 | 機械振興会館 | データパス回路の機能的k時間展開モデル生成のためのコントローラ拡大法 ○兒玉雄佑・西間木 淳・増田哲也・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2013-10 |
近年，LSIの設計生産性の向上とテストコスト削減のため，動作合成においてデータパスのテスト容易化合成が提案されている．提... [more] | DC2013-10 pp.1-6 |
| DC | 2011-02-14 14:10 |
東京 | 機械振興会館 | 機能的時間展開モデルを用いたデータパス回路のテスト生成法 ○早川鉄平・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2010-65 |
近年，より抽象度の高い動作記述を用いて大規模集積回路の設計が行われている．動作記述から動作合成を用いて生成されるレジスタ... [more] | DC2010-65 pp.39-44 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-12-01 11:25 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | 動作記述を用いた順序テスト生成およびテスト容易化バインディング ○井上諒一・藤原浩顕・細川利典（日大）・藤原秀雄（奈良先端大） VLD2010-76 DC2010-43 |
順序回路に対して多くのテスト生成アルゴリズムが提案されているが，組合せ回路に対するテスト生成と比べ困難な問題であり，現実... [more] | VLD2010-76 DC2010-43 pp.143-148 |
| DC | 2010-02-15 11:25 |
東京 | 機械振興会館 | 演算器順序深度削減指向テスト容易化バインディング法 ○長 孝昭・細川利典（日大） DC2009-70 |
近年特定の応用分野において，動作記述を用いて回路設計が行われている．動作記述からレジスタ転送レベル回路を設計するさい，動... [more] | DC2009-70 pp.31-38 |
| DC | 2009-02-16 10:25 |
東京 | 機械振興会館 | スキャンテストにおけるテスト不可能故障の検出を削減するためのテスト生成法 吉村正義（九大）・○小河宏志（日大）・大森悠翔（富士通マイクロエレクトロニクス）・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） DC2008-69 |
スキャンテストは，VLSIのテスト方式として広く普及しているが，回路構造の情報のみを利用したテスト法で，シフト動作によっ... [more] | DC2008-69 pp.7-12 |
| DC | 2008-02-08 10:25 |
東京 | 機械振興会館 | マルチサイクルキャプチャテストを用いたフルスキャン設計回路の縮退故障テスト生成 大森悠翔・○小河宏志・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大） DC2007-70 |
スキャンテストは，VLSIのテスト方式として広く普及しているが，回路構造の情報のみを利用したテスト法で，シフト動作によっ... [more] | DC2007-70 pp.19-24 |
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