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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2022-12-16 13:10 |
山口 | 旧大阪商船「海峡ロマンホール」 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
LSI微小遅延故障診断の高精度化について ○藤田慎ノ介・ステファン ホルスト・温 暁青（九工大）  DC2022-72 |
今日のタイトなタイミングマージン、製造ばらつきの増加、ナノメータ技術の発達に伴い、タイミング関連の欠陥がLSI技術の発展... [more] | DC2022-72 pp.1-6 |
| VLD, DC, RECONF, ICD (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2022-11-30 14:45 |
熊本 | 金沢市文化ホール （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
3次元積層ICに実装した遅延検査容易化回路によるTSV検査能力評価 ○高見圭悟・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） VLD2022-47 ICD2022-64 DC2022-63 RECONF2022-70 |
3 次元積層ICにおいてチップ間接続に用いられるTSVの故障検査が課題となっている.我々はチップ間接続における遅延故障を... [more] | VLD2022-47 ICD2022-64 DC2022-63 RECONF2022-70 pp.162-167 |
| DC | 2022-03-01 14:45 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
SATを用いた遅延故障BIST向けLFSRシード生成法 ○岩本岬汰郎・大竹哲史（大分大） DC2021-74 |
LFSRを用いたLSIのBISTにおいて，ランダムパターン耐性故障を検出するシードを求めるニーズがある．これまでに，AT... [more] | DC2021-74 pp.57-62 |
| DC | 2020-12-11 13:00 |
兵庫 | 洲本市文化体育館 （淡路島） （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
勾配降下法を用いた回路遅延の劣化予測について ○森 誠一郎・権藤昌之・三宅庸資・加藤隆明・梶原誠司（九工大） DC2020-59 |
最先端のVLSIでは経年劣化に起因する故障の発生が懸念されており，高信頼システムに使用される場合，回路の劣化による故障が... [more] | DC2020-59 pp.1-6 |
| DC | 2020-02-26 15:00 |
東京 | 機械振興会館 | LSIの高消費電力エリアに対する信号値遷移制御率向上に関する研究 ○史 傑・宮瀬紘平・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2019-94 |
LSI テスト時は，通常動作より多くの信号値遷移が起こることで過度なIRドロップが発生し，LSI回路内部の信号伝搬遅延時... [more] | DC2019-94 pp.49-54 |
| EST | 2020-01-31 09:30 |
大分 | 別府国際コンベンションセンター（小会議室31） | DMEの対流圏遅延誤差のワーストケース解析 ○毛塚 敦・上林篤史・吉原貴之・藤井直樹（電子航法研） EST2019-90 |
欧州および日本国内の航空航法において大規模空港へのRNPルート導入が検討されている．このRNPルートの飛行には，GNSS... [more] | EST2019-90 pp.59-62 |
| DC | 2019-12-20 16:30 |
和歌山 | 南紀くろしお商工会 | 長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測 ○三宅庸資・加藤隆明・梶原誠司（九工大）・麻生正雄・二見治司・松永恵士（シスウェーブ）・三浦幸也（首都大東京） DC2019-85 |
最先端のVLSIでは経年劣化に起因する故障の増加が懸念されている．回路の劣化による遅延の増加を検出するには，フィールドで... [more] | DC2019-85 pp.37-42 |
| IN, NS (併催) |
2019-03-05 16:20 |
沖縄 | 沖縄コンベンションセンター | 避難者属性を考慮した被災地におけるDTNを用いた避難経路推薦方式の提案 ○三角 真・上山憲昭（福岡大） NS2018-286 |
災害が発生したとき，避難者が避難を安全かつ迅速に行うためには，避難所の情報と避難経路の情報は必要不可欠である．適切な避難... [more] | NS2018-286 pp.533-538 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2018-12-06 13:00 |
広島 | サテライトキャンパスひろしま | TDC組込み型バウンダリスキャンにおける遅延付加部の分割による検査時間の削減 ○平井智士・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） VLD2018-56 DC2018-42 |
ICの新たな集積方法として，TSV(Through-Silicon-Via)を用いた3次元積層技術が注目されている． ... [more] |
VLD2018-56 DC2018-42 pp.119-124 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2018-12-06 13:50 |
広島 | サテライトキャンパスひろしま | 自動生成パターンの微小遅延故障検査用回路への適用性検討 ○谷口公貴・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） VLD2018-58 DC2018-44 |
集積回路の高集積化に伴い，回路内において微小遅延故障が顕在化している．微小遅延故障の検査手法として，TDC(Time-t... [more] | VLD2018-58 DC2018-44 pp.131-136 |
| HWS, ISEC, SITE, ICSS, EMM (共催) IPSJ-CSEC, IPSJ-SPT (共催) (連催) [詳細] |
2018-07-26 15:25 |
北海道 | 札幌コンベンションセンター | パス遅延故障に基づくハードウェアトロイの系統的挿入法とその評価 ○伊東 燦・上野 嶺・本間尚文・青木孝文（東北大） ISEC2018-44 SITE2018-36 HWS2018-41 ICSS2018-47 EMM2018-43 |
本稿では，パス遅延故障に基づくハードウェアトロイ(PDHT: Path Delay Hardware Trojan) の... [more] | ISEC2018-44 SITE2018-36 HWS2018-41 ICSS2018-47 EMM2018-43 pp.349-356 |
| DC | 2018-02-20 09:30 |
東京 | 機械振興会館 | 2パターンテストにおける重み付き故障カバレージに関する一考察 ○新井雅之（日大）・岩崎一彦（首都大東京） DC2017-77 |
半導体製造技術の微細化・高集積化に伴い，欠陥レベルの事前見積り値と実製品に対する値との乖離が問題となっている．著者らは，... [more] | DC2017-77 pp.1-6 |
| DC | 2018-02-20 10:35 |
東京 | 機械振興会館 | TDC組込み型バウンダリスキャンにおける遅延付加部のリオーダによる配線長の低減 ○平井智士・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） DC2017-79 |
3次元積層ICにおけるダイ間配線の新しい実装方法として，TSV(Through-Silicon-Via)が注目されている... [more] | DC2017-79 pp.13-18 |
| DC | 2017-02-21 14:00 |
東京 | 機械振興会館 | Impact of Operational Unit Binding on Aging-induced Degradation in High-level Synthesis for Asynchronous Systems ○Tsuyoshi Iwagaki・Kohta Itani・Hideyuki Ichihara・Tomoo Inoue（Hiroshima City Univ.） DC2016-78 |
[more] | DC2016-78 pp.23-28 |
| IA | 2017-01-27 16:40 |
東京 | 機械振興会館 B3 研修2号室 | 新世代ネットワークアーキテクチャ ZNA における DTN を考慮した Layer-5 拡張 ○三武大樹・渡邊大記・金子晋丈・寺岡文男（慶大） IA2016-89 |
インターネットを白紙から作り直そうという考え方，いわゆる clean slate approach が世界中で盛んになっ... [more] | IA2016-89 pp.61-66 |
| VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-30 09:25 |
大阪 | 立命館大学大阪いばらきキャンパス | 微小遅延故障テストのためのTDC組込み型スキャンFFの設計について ○河塚信吾・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） VLD2016-62 DC2016-56 |
半導体製造技術の向上により，回路の遅延時間がわずかにシフトする微小遅延故障がタイミング不良として顕在化している． 微小... [more] |
VLD2016-62 DC2016-56 pp.105-110 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2015-12-03 14:10 |
長崎 | 長崎県勤労福祉会館 | 遅延故障BIST向けLFSR/MISRシード生成 ○嶋津大地・大竹哲史（大分大） VLD2015-70 DC2015-66 |
本稿では，遅延故障に対するスキャンBIST向けのLFSR及びMISRシード生成法を提案する． 従来より使用されているシ... [more] |
VLD2015-70 DC2015-66 pp.213-218 |
| DC | 2015-02-13 15:20 |
東京 | 機械振興会館 | 階層BIST向けLFSRシード生成法 ○佐脇光亮・大竹哲史（大分大） DC2014-85 |
組込み自己テスト(BIST)で用いるテストパターン生成器の一つに線形フィードバックレジスタ(LFSR)がある． LFS... [more] |
DC2014-85 pp.43-48 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-26 14:45 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | TSV故障検出回路の制御部改良および観測部における面積削減の検討 ○宮本陽平・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） VLD2014-72 DC2014-26 |
故障TSVで発生する遅延量は極めて小さく，故障検出が困難である．そこで，隣接TSVを考慮したTSV故障検出回路が提案され... [more] | VLD2014-72 DC2014-26 pp.3-8 |
| DC | 2014-02-10 09:25 |
東京 | 機械振興会館 | TDC組込み型バウンダリスキャン回路による遅延検出能力評価 ○櫻井浩希・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） DC2013-80 |
ディープサブミクロン(DSM)ICでは，抵抗性ショート欠陥やオープン欠陥が従来の縮退故障の振る舞いをせず，遅延として現れ... [more] | DC2013-80 pp.7-12 |
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