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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| ICTSSL, CAS (共催) |
2022-01-20 09:50 |
ONLINE | オンライン開催 | 塗装不良における深層学習を用いた二段階分類法の検討 ○安達和音・名取隆廣・相川直幸（東京理科大）  CAS2021-51 ICTSSL2021-28 |
近年，深層学習を用いた不良の検出や分類の検査手法が提案されている．本稿では，様々な塗装不良を分類するために，深層学習を用... [more] | CAS2021-51 ICTSSL2021-28 pp.1-5 |
| US | 2021-02-22 15:45 |
ONLINE | オンライン開催 | 非接触音響探査法の欠陥検出における規格化スペクトルエントロピーの検討 ○杉本和子・杉本恒美（桐蔭横浜大） US2020-72 |
非接触音響探査法は，非接触非破壊で遠隔からコンクリートなどの複合材料の内部欠陥を検出・映像化する方法である．対象面を音波... [more] | US2020-72 pp.29-34 |
| MSS, SS (共催) |
2021-01-26 15:05 |
ONLINE | オンライン開催 | テキスト分類による不具合予測システムの実装と企業環境での評価 ○水野 修・黒田翔太（京都工繊大）・石原一宏（バルテス）・山下大輔（バルテス・モバイルテクノロジー） MSS2020-32 SS2020-17 |
ソフトウェア開発工程において，不具合(バグ)を早期に発見できれば，修正の労力を少なく抑えることができる．そのため，バグ予... [more] | MSS2020-32 SS2020-17 pp.19-24 |
| US | 2020-02-28 12:45 |
東京 | 東京電機大学 | 非接触音響探査法のための空間スペクトルエントロピーによる共振周波数の識別を用いた欠陥検出 ～ 遠隔30mからの高架橋床版における実験と解析結果 ～ ○杉本和子・杉本恒美（桐蔭横浜大）・歌川紀之・黒田千歳（佐藤工業） US2019-99 |
非接触音響検査法では，複合材料，特にコンクリートの浅層（深さ10ｃｍ位まで）の内部欠陥を非接触非破壊で遠隔(33m位まで... [more] | US2019-99 pp.1-5 |
| MI | 2020-01-29 13:20 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | ［ショートペーパー］眼底画像におけるOCTデータを教師に用いたCNNによる網膜神経線維層解析 ○渡邊颯友（岐阜大）・村松千左子（滋賀大）・澤田 明・周 向栄（岐阜大）・畑中裕司（滋賀県立大）・原 武史・山本哲也・藤田広志（岐阜大） MI2019-80 |
緑内障は日本における中途失明原因の第1位であり，自覚症状が少ないため早期発見が重要となる．しかし，眼底画像を用いた定期検... [more] | MI2019-80 pp.71-72 |
| CPM, LQE, ED (共催) |
2019-11-22 14:40 |
静岡 | 静岡大学（浜松） | 光熱偏向分光によるIII-V族窒化物の評価 ○角谷正友（物質・材料研究機構） ED2019-58 CPM2019-77 LQE2019-101 |
III-V族窒化物半導体材料を電子デバイスや受光デバイスに応用するには、ギャップ内欠陥準位の評価と低減が重要である。我々... [more] | ED2019-58 CPM2019-77 LQE2019-101 pp.107-110 |
| AI, IPSJ-ICS, JSAI-KBS, JSAI-DOCMAS, JSAI-SAI (連催) |
2019-03-09 17:20 |
北海道 | ルスツリゾート | 畳み込みオートエンコーダを用いた工業製品の不良検査 ○工藤郁弥（シンセメック）・横山想一郎・山下倫央・川村秀憲（北大） AI2018-58 |
工業製品の製造現場において，不良品の検査は目視によって行われることが一般的であるが，検査員の高い人的コストや高齢化が問題... [more] | AI2018-58 pp.31-36 |
| US | 2018-02-19 13:25 |
東京 | 東京都立産業技術研究センター本部 | 空中放射音波を用いた非接触音響探査法に関する研究 ～ 健全部の統計的評価による欠陥検出と映像化 ～ ○杉本和子・杉本恒美（桐蔭横浜大）・歌川紀之・黒田千歳（佐藤工業） US2017-113 |
遠距離からコンクリートの内部欠陥を検出可能な非接触音響探査法の検討を行っている。本手法は欠陥部のたわみ共振を利用した手法... [more] | US2017-113 pp.7-12 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2017-11-07 11:20 |
熊本 | くまもと県民交流館パレア | IDDT出現時間に基づく検査法の断線故障検出能力向上のための設計 ○神原東風・大谷航平・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） VLD2017-49 DC2017-55 |
IC内に発生する断線故障の増加が問題となっている. これまでに我々はCMOS論理回路内の信号線における断線故障を検出す... [more] |
VLD2017-49 DC2017-55 pp.125-130 |
| SCE | 2017-01-19 10:55 |
東京 | 機械振興会館 | SQUID非破壊検査装置を用いた金属配管のリモート・非接触検査実現可能性の検討 その3 ○廿日出 好・増谷夏輝・寺西祥汰・政本 健・兼永翔矢（近畿大） SCE2016-40 |
我々は，SQUID非破壊検査装置を用いて，配管を対象に想定した，リモート・非接触検査技術の研究・開発を行っている．今回，... [more] | SCE2016-40 pp.7-12 |
| PRMU, CNR (共催) |
2015-02-19 16:20 |
宮城 | 東北大学 | ［ポスター講演］変動モデル学習を用いたドット文字の認識と印字不良の判定 ○松井 舜・遠藤浩士・大山 航・若林哲史・木村文隆（三重大） PRMU2014-128 CNR2014-43 |
本研究では，製品の品質情報を記述する際に用いられるドット文字の印字不良検出を目的とする． 現在，複数の企業で印字検査装... [more] |
PRMU2014-128 CNR2014-43 pp.89-90 |
| DC | 2011-02-14 13:45 |
東京 | 機械振興会館 | 高精度遅延テストのためのテストパターン生成法 ○堀 慧悟（奈良先端大）・米田友和・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大/JST） DC2010-64 |
本研究では，システムクロックより速い複数のテストクロックを用いて，微小遅延を検出するテスト手法を提案する．半導体の製造プ... [more] | DC2010-64 pp.33-38 |
| DC | 2011-02-14 14:35 |
東京 | 機械振興会館 | 欠陥検出テストのためのテストパターン選択 ○古谷博司・酒井孝郎・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大） DC2010-66 |
微細化加工技術の進展に伴って，配線の欠陥によって生じる不良モードの多様化が問題となっている．そのため，従来の縮退故障およ... [more] | DC2010-66 pp.45-50 |
| SS | 2010-08-05 13:45 |
北海道 | 旭川市民文化会館 | プログラム依存グラフの一貫性検査に基づく欠陥検出手法の提案 ○山田吾郎（阪大）・吉田則裕（奈良先端大）・井上克郎（阪大） SS2010-20 |
本稿では，プロジェクト内の各ソースファイルから構築したプログラム依存グラフに対し一貫性検査を行うことで，ソースコードから... [more] | SS2010-20 pp.23-28 |
| DC | 2010-02-15 13:20 |
東京 | 機械振興会館 | 差分による遅延測定法の実行時間と面積の削減 ○田辺 融・湊 浩久・加藤健太郎・難波一輝・伊藤秀男（千葉大） DC2009-71 |
近年のVLSIにおける微細化や高集積化，高速化に伴い，回路内の信号伝播時間がわずかに変化する微小遅延欠陥が問題視されてい... [more] | DC2009-71 pp.39-44 |
| EA, SIP, SP (共催) |
2009-05-29 16:30 |
兵庫 | 兵庫県立大学 | SVMを用いた金属加工品上異種欠陥の検出 ○黒川健太・森本雅和・藤井健作（兵庫県立大） EA2009-17 SIP2009-17 SP2009-22 |
本稿では，円筒型の金属加工品を検査対象とし，工場ライン上でその表面に発生するキズやシミといった異種欠陥を，その表面をライ... [more] | EA2009-17 SIP2009-17 SP2009-22 pp.87-92 |
| DC | 2009-02-16 13:50 |
東京 | 機械振興会館 | 組合せ回路に対する欠陥考慮テストパターンの一生成法 ○高橋 寛・樋上喜信・和泉太佑・相京 隆・高松雄三（愛媛大） DC2008-73 |
微細化加工技術の進展に伴って，配線の欠陥によって生じる不良モードの多様化が問題となっている． そのため，品質保証のため... [more] |
DC2008-73 pp.31-36 |
| ICD, SDM (共催) |
2008-07-17 10:55 |
東京 | 機械振興会館 | 高信頼なLSIを実現するための微小遅延欠陥検出技術 ○野口宏一朗・野瀬浩一（NEC）・尾野年信（NECエレクトロニクス）・水野正之（NEC） SDM2008-132 ICD2008-42 |
プロセスの微細化によるチップの高集積化に伴い、微小遅延故障がチップの信頼性を下げる大きな要因の一つになっている。我々はＬ... [more] | SDM2008-132 ICD2008-42 pp.23-28 |
| SS | 2007-12-17 15:15 |
島根 | 島根大学 | 識別子の共起関係に基づく類似コード検索法の提案と欠陥検出への適用 ○服部剛之・吉田則裕・早瀬康裕・肥後芳樹・松下 誠・楠本真二・井上克郎（阪大） SS2007-47 |
ソフトウェアの保守を行う際に，複数箇所に同様の修正を加える必要が生じるこ とがある． 例えば，ソースコード中にある欠... [more] |
SS2007-47 pp.55-60 |
| PRMU, NLC (共催) |
2005-09-21 10:00 |
東京 | 東大(本郷) | 統計パターン比較と特徴的はずれ値検出による微小欠陥の認識手法 ○酒井 薫・前田俊二（日立） |
半導体回路パターンの比較検査においては，規則的に形成されたパターンを撮像し，隣接するパターンの明るさの差が大きい部分を欠... [more] | NLC2005-26 PRMU2005-53 pp.11-16 |
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