| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 研究会 開催スケジュール |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
すべての研究会開催スケジュール (検索条件: すべての年度)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2023-02-28 15:15 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
組込み自己テストのための複数ランダムパータンレジスタント遷移故障のシード生成法 徐 雁レイ・三浦 怜・○細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）  DC2022-89 |
近年超大規模集積回路の微細化，高速化，電源電圧の低電圧化により，タイミング遅延を伴う欠陥が増加している．それゆえ， 遷移... [more] | DC2022-89 pp.39-44 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2022-07-27 09:45 |
山口 | 海峡メッセ下関 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
擬似ブール最適化を用いたFFR出力信号線遷移とWSAの相関に基づく低消費電力指向ドントケア割当て法 ○徐 雁レイ・三浦 怜・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） CPSY2022-1 DC2022-1 |
近年，VLSIの低消費電力化に伴い，低消費電力テストを実行するために，低消費電力指向ドントケア判定手法とドントケア割当て... [more] | CPSY2022-1 DC2022-1 pp.1-6 |
| DC | 2020-02-26 14:10 |
東京 | 機械振興会館 | パーシャルMaxSATを用いた低消費電力指向ドントケア判定・割当て同時最適化法 ○三澤健一郎・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大） DC2019-92 |
近年，実速度スキャンテストにおいて，過度なキャプチャ時消費電力の発生が問題視されている．キャプチャ時消費電力を削減するた... [more] | DC2019-92 pp.37-42 |
| DC | 2019-02-27 09:50 |
東京 | 機械振興会館 | キャプチャセーフテストベクトルの故障伝搬経路を模倣した低消費電力志向ドントケア判定法 ○三澤健一郎・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大） DC2018-73 |
初期テスト集合中のキャプチャアンセーフテストベクトル数とアンセーフ故障数を削減するために，低消費電力を志向したドントケ判... [more] | DC2018-73 pp.13-18 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2018-12-06 10:55 |
広島 | サテライトキャンパスひろしま | ニューラルネットワークを用いたランダムキャプチャセーフテストベクトル生成について ○越智小百合・三澤健一郎・細川利典・山内ゆかり・新井雅之（日大） VLD2018-51 DC2018-37 |
実速度スキャンテストにおいて，過度のキャプチャ消費電力はIRドロップを引き起こし，誤テストにより歩留り損失が発生する．キ... [more] | VLD2018-51 DC2018-37 pp.89-94 |
| DC | 2017-02-21 10:30 |
東京 | 機械振興会館 | キャプチャセーフテストベクトルを利用した低消費電力指向テスト生成における動的テスト圧縮法 ○細川利典・平井淳士・山崎紘史・新井雅之（日大） DC2016-74 |
実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ動作時の過度な電力消費は回路の熱破壊や誤テストといった深刻な問題を引き起こし，歩... [more] | DC2016-74 pp.1-6 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2015-12-02 13:45 |
長崎 | 長崎県勤労福祉会館 | 人物検知用赤外線アレイセンサ対応低消費電力AFE回路の設計 ○上口翔大（立命館大）・熊本敏夫（阪産大）・白畑正芳・熊木武志・藤野 毅（立命館大） CPM2015-129 ICD2015-54 |
我々は赤外線アレイセンサを利用して人物侵入検知したときのみCMOSカメラを起動し撮影する，低消費電力人物監視カメラ端末の... [more] | CPM2015-129 ICD2015-54 pp.11-16 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-28 09:40 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | キャプチャセーフテストベクトルを利用した低消費電力テスト生成法 ○平井淳士・細川利典・山内ゆかり・新井雅之（日大） VLD2014-98 DC2014-52 |
実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ動作時の過度な電力消費は回路の熱破壊や誤テストといった深刻な問題を引き起こし，歩... [more] | VLD2014-98 DC2014-52 pp.179-184 |
| DC | 2014-06-20 14:05 |
東京 | 機械振興会館 | 低キャプチャ電力スキャンテスト生成のためのX埋め込み手法 ○李 富強・温 暁青・宮瀬紘平・ホルスト シュテファン・梶原誠司（九工大） DC2014-12 |
低キャプチャ電力のスキャンテストパターンを生成するため，セルの実効電圧降下 （IR-Drop）との関わりの強いローカル... [more] |
DC2014-12 pp.15-20 |
| DC | 2014-02-10 16:00 |
東京 | 機械振興会館 | マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いた低消費電力指向遷移故障テスト生成法 ○山崎紘史・川連裕斗・西間木 淳・平井淳士・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大） DC2013-89 |
ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている．キャプチャ時の高... [more] | DC2013-89 pp.61-66 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-28 14:55 |
福岡 | 九州大学百年講堂 | マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法 ○王 森レイ・佐藤康夫・梶原誠司・宮瀬紘平（九工大） VLD2012-102 DC2012-68 |
論理BISTにおけるテスト時の電力消費低減が課題である．スキャン入力時の電力やキャプチャ時の電力は様々な制御手法が提案さ... [more] | VLD2012-102 DC2012-68 pp.249-254 |
| DC | 2011-06-24 16:20 |
東京 | 機械振興会館 | テストベクトル変換手法を用いた低消費電力LOS 実速度テスト ○宮瀬紘平・内之段裕太・榎元和成（九工大）・大和勇太（奈良先端大）・温 暁青・梶原誠司（九工大）・Fangmei Wu・Luigi Dilillo・Alberto Bosio・Patrick Girard・Arnaud Verazel（Lirmm） DC2011-13 |
LSIの実速度テスト方式の一つであるLOS方式に対する低消費電力テスト手法を提案する．本稿では，X判定技術とX割当技術を... [more] | DC2011-13 pp.29-34 |
| DC | 2011-02-14 10:25 |
東京 | 機械振興会館 | 実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定 ○坂井僚太・宮瀬紘平・温 暁青（九工大）・麻生正雄・古川 寛（ルネサス マイクロシステム）・大和勇太（福岡県産業・科学技術振興財団）・梶原誠司（九工大） DC2010-60 |
実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の過度な消費電力は，LSIテスト時にタイミングのエラーを引き起こし，歩留り低下の... [more] | DC2010-60 pp.7-12 |
| RECONF | 2010-05-14 14:05 |
長崎 | 長崎温泉 やすらぎ伊王島 (長崎市伊王島町) | 動的再構成デバイスによるリアルタイム翻訳システムの構築と検証 木下 慶・高野大輔・岡村知晋・矢尾哲彦・○山口佳樹（筑波大） RECONF2010-17 |
近年，監視・車載・携帯・航空宇宙産業など用途を問わず，広視野角でかつ高精細な動画像を撮影する要求が高まっている．これらで... [more] | RECONF2010-17 pp.93-98 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) CPSY, RECONF, IPSJ-ARC (併催) [詳細] |
2007-11-20 10:30 |
福岡 | 北九州国際会議場 | 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について ○福澤友晶・宮瀬紘平・大和勇太・古川 寛・温 暁青・梶原誠司（九工大） VLD2007-71 DC2007-26 |
実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時に多くのフリップフロップで論理値の遷移が起こると過度のIRドロップが生じる可能... [more] | VLD2007-71 DC2007-26 pp.7-12 |
| ICD, CPM (共催) |
2007-01-19 13:00 |
東京 | 機械振興会館 | 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について ○塔ノ上義章・温 暁青・梶原誠司（九工大）・宮瀬紘平（JST）・鈴木達也・大和勇太（九工大） |
スキャンテストにおいて，キャプチャ時のフリップフロップでの論理値の遷移が多く起こると過度のIRドロップを引き起こす可能性... [more] | CPM2006-148 ICD2006-190 pp.109-114 |
| VLD, ICD, DC, IPSJ-SLDM (共催) |
2005-12-02 09:30 |
福岡 | 北九州国際会議場 | スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について ○鈴木達也・温 暁青・梶原誠司（九工大）・宮瀬紘平・皆本義弘（JST） |
スキャンテストのキャプチャ時においてフリップフロップでの論理値の遷移が多く起こると過度のＩＲドロップを引き起こす可能性が... [more] | VLD2005-76 ICD2005-171 DC2005-53 pp.1-6 |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]