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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| ET | 2022-03-04 15:45 |
ONLINE | オンライン開催 | 授業ニーズに適応的なIoT教材における可視化システムの拡張 ○加藤孝明・香山瑞恵（信州大）・永井 孝（ものつくり大）・神田悠作・清水峻司（信州大）  ET2021-79 |
我々はこれまで計測を伴う授業・実験での利用を想定した教育用IoT教材の開発を行ってきた．この教材の特徴は，授業の効率化と... [more] | ET2021-79 pp.157-162 |
| DC | 2022-03-01 10:55 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
オンチップ遅延測定における温度電圧の影響補正について ○加藤隆明（九工大）・三宅庸資（プリバテック）・梶原誠司（九工大） DC2021-67 |
論理回路の経年劣化の問題に対して，フィールドで定期的に遅延測定することが有効である．フィールド測定した遅延値は測定時の温... [more] | DC2021-67 pp.18-23 |
| ET | 2021-03-06 15:40 |
ONLINE | オンライン開催 | オンライン/オフラインに対応したIoTベースの情報管理システムとその時系列グラフ設定機能の提案 ○浅野 晶・香山瑞恵（信州大）・永井 孝（ものつくり大）・加藤孝明（信州大） ET2020-74 |
本研究の目的はオフライン利用にも対応したIoT基盤の提案である. この目的の実現のために、非同期蓄積機能を設計した. 非... [more] | ET2020-74 pp.127-132 |
| DC | 2020-12-11 13:00 |
兵庫 | 洲本市文化体育館 （淡路島） （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
勾配降下法を用いた回路遅延の劣化予測について ○森 誠一郎・権藤昌之・三宅庸資・加藤隆明・梶原誠司（九工大） DC2020-59 |
最先端のVLSIでは経年劣化に起因する故障の発生が懸念されており，高信頼システムに使用される場合，回路の劣化による故障が... [more] | DC2020-59 pp.1-6 |
| DC | 2019-12-20 16:30 |
和歌山 | 南紀くろしお商工会 | 長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測 ○三宅庸資・加藤隆明・梶原誠司（九工大）・麻生正雄・二見治司・松永恵士（シスウェーブ）・三浦幸也（首都大東京） DC2019-85 |
最先端のVLSIでは経年劣化に起因する故障の増加が懸念されている．回路の劣化による遅延の増加を検出するには，フィールドで... [more] | DC2019-85 pp.37-42 |
| PRMU, BioX (共催) |
2019-03-18 14:45 |
東京 | 電気通信大学 | ［ショートペーパー］関節の非同期DPマッチングを用いたスポーツ動作解析 ○角 淳之介（九大）・永田聡典（中京大）・加藤貴昭（慶大）・内田誠一（九大） BioX2018-63 PRMU2018-167 |
本研究では，バレーのサーブ及び野球の投手の投球を定量的に解析する． 本研究では，注目関節およびその近傍関節（コンテキス... [more] |
BioX2018-63 PRMU2018-167 pp.197-200 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2018-12-06 13:25 |
広島 | サテライトキャンパスひろしま | 論理BISTのテスト電力制御手法とTEG評価について ○加藤隆明（九工大）・王 森レイ（愛媛大）・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） VLD2018-57 DC2018-43 |
スキャンベースの論理BISTでは，過度のテスト時消費電力が問題となる．一方，電力削減は故障検出率向上及びテスト時間削減と... [more] | VLD2018-57 DC2018-43 pp.125-130 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2017-11-07 09:00 |
熊本 | くまもと県民交流館パレア | スキャンベース論理BISTにおけるマルチサイクルテストの中間観測FF選出手法について ○大島繁之・加藤隆明（九工大）・王 森レイ（愛媛大）・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） VLD2017-41 DC2017-47 |
論理BISTにおける故障検出率向上のために，マルチサイクルテストにおけるフリップフロップ(FF)値の中間観測手法が提案さ... [more] | VLD2017-41 DC2017-47 pp.85-90 |
| DC | 2015-12-18 13:20 |
新潟 | クリエート村上(村上市) | デジタルモニタを用いたチップ内温度電圧変動の測定について ○三宅庸資・加藤隆明・糸永卓矢・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） DC2015-74 |
VLSIの稼働時の温度と電圧を測定するデジタルモニタが提案されている．このデジタルモニタは，一般的なアナログ回路によるモ... [more] | DC2015-74 pp.5-10 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2013-11-29 09:20 |
鹿児島 | 鹿児島県文化センター | 論理BISTにおけるスキャンイン電力制御回路のTEG評価について ○加藤隆明・喜納 猛・三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） VLD2013-93 DC2013-59 |
スキャンベースの論理BISTでは高いテスト時電力の低減が課題となっている．しかしアプリケーション毎にその電力低減目標は異... [more] | VLD2013-93 DC2013-59 pp.233-238 |
| DC | 2012-06-22 15:45 |
東京 | 機械振興会館 | 論理BISTの電力低減手法と評価 ○佐藤康夫・王 森レイ・加藤隆明・宮瀬紘平・梶原誠司（九工大） DC2012-14 |
論理BISTのテスト時電力は通常のスキャンテストよりも高く電力低減が必要であるが，発生パターンのランダム性から，その制御... [more] | DC2012-14 pp.33-38 |
| DC | 2012-02-13 11:55 |
東京 | 機械振興会館 | 低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について ○加藤隆明・王 森レイ・宮瀬紘平・佐藤康夫・梶原誠司（九工大/JST） DC2011-80 |
スキャン設計を用いた組込み自己テスト(BIST)では，テスト時の高い電力消費が問題である．本研究では，スキャンBISTに... [more] | DC2011-80 pp.25-29 |
| MSS | 2006-06-01 15:05 |
石川 | 石川ハイテク交流センター | 述語抽象化とその精錬による確率線形ハイブリッドオートマトンの到達可能解析手法 ○加藤位明（金沢大）・陸田陽介（NEC）・山根 智（金沢大） |
近年,ユビキタスコンピューティングが進み,身の回りのあらゆるものにシステムが組み込まれるようになった.そうした状況の中,... [more] | CST2006-4 pp.19-24 |
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