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 88件中 1~20件目  /  [次ページ]  
研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC, CPSY
(連催)
IPSJ-ARC
(連催) [詳細]
2020-10-12
15:20
ONLINE オンライン開催 CNNに基づくLSIレイアウト上の欠陥位置推定法に関する一考察
永村美一都立大)・○新井雅之日大)・福本 聡都立大CPSY2020-20 DC2020-20
 [more] CPSY2020-20 DC2020-20
pp.16-21
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-ARC
(連催) [詳細]
2020-07-31
15:45
ONLINE オンライン開催 テストパターン数削減のためのゲート網羅故障の多重目標故障テスト生成法
浅見竜輝細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大CPSY2020-12 DC2020-12
近年,集積回路の高集積化・複雑化に伴い,セル内の欠陥が増加し,セル内の故障モデルのテスト生成法やゲート網羅故障モデルのテ... [more] CPSY2020-12 DC2020-12
pp.75-80
HWS, VLD
(共催) [詳細]
2020-03-06
14:30
沖縄 沖縄県青年会館
(開催中止,技報発行あり)
パーシャルMAX-SATを用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法
山崎紘史石山悠太松田竜馬細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大)・四柳浩之橋爪正樹徳島大VLD2019-131 HWS2019-104
従来,VLSIのテストでは,縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた.しかしながら,半導体微細化技術の進展に伴... [more] VLD2019-131 HWS2019-104
pp.215-220
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2020-02-27
14:30
鹿児島 与論町中央公民館 周波数およびゲートウェイ多重化によるLoRa通信の高信頼化に関する一検討
工藤光平佐々木一稀・○新井雅之日大CPSY2019-98 DC2019-104
BluetoothやWi-Fiよりも広いエリアをカバーしつつ,通信速度を抑えることで低消費電力を実現するIoT向けの通信... [more] CPSY2019-98 DC2019-104
pp.63-68
DC 2020-02-26
14:10
東京 機械振興会館 パーシャルMaxSATを用いた低消費電力指向ドントケア判定・割当て同時最適化法
三澤健一郎細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大DC2019-92
近年,実速度スキャンテストにおいて,過度なキャプチャ時消費電力の発生が問題視されている.キャプチャ時消費電力を削減するた... [more] DC2019-92
pp.37-42
DC, CPSY
(共催)
IPSJ-ARC
(連催) [詳細]
2019-06-11
14:50
鹿児島 指宿温泉 休暇村 指宿 SATを用いたSDNルールテーブル分割法の高速化に関する検討
小笠原亮太・○新井雅之日大CPSY2019-4 DC2019-4
 [more] CPSY2019-4 DC2019-4
pp.39-44
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2019-03-18
09:00
鹿児島 西之表市民会館(種子島) 最大充足化問題を用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法
山崎紘史細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大)・四柳浩之橋爪正樹徳島大CPSY2018-117 DC2018-99
従来,VLSIのテストでは,縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた.しかしながら,半導体微細化技術の進展に伴... [more] CPSY2018-117 DC2018-99
pp.315-320
DC 2019-02-27
09:00
東京 機械振興会館 クリティカルエリアを考慮した2パターンテスト生成における故障選択に関する一考察
内山直也・○新井雅之日大DC2018-71
 [more] DC2018-71
pp.1-5
DC 2018-12-14
13:40
沖縄 沖縄県立宮古青少年の家 標準車載ネットワークCANの評価手法
佐藤諒平福本 聡首都大東京)・新井雅之日大DC2018-60
コントローラエリアネットワークCANは,車載ネットワークプロトコルの業界標準である.
CANの信頼性を向上し,実装にか... [more]
DC2018-60
pp.13-17
DC 2018-12-14
14:05
沖縄 沖縄県立宮古青少年の家 SDNのルールテーブル分割に対するSATベース解法
小笠原亮太・○新井雅之日大DC2018-61
 [more] DC2018-61
pp.19-23
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2018-12-06
10:55
広島 サテライトキャンパスひろしま ニューラルネットワークを用いたランダムキャプチャセーフテストベクトル生成について
越智小百合三澤健一郎細川利典山内ゆかり新井雅之日大VLD2018-51 DC2018-37
実速度スキャンテストにおいて,過度のキャプチャ消費電力はIRドロップを引き起こし,誤テストにより歩留り損失が発生する.キ... [more] VLD2018-51 DC2018-37
pp.89-94
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
DC
(併催) [詳細]
2018-07-30
17:30
熊本 熊本市国際交流会館 遅延耐性ネットワークを応用したBAN高信頼化手法に関する一考察
桐井誠倖・○新井雅之日大DC2018-16
 [more] DC2018-16
pp.19-22
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-ARC
(連催) [詳細]
2018-06-15
13:50
山形 たかみや瑠璃倶楽リゾート(山形市蔵王温泉) パワーエレクトロニクスのためのリアルタイム無線データ転送に関する一検討
横山慎悟大原 衛首都大東京)・新井雅之日大CPSY2018-8 DC2018-8
パワーエレクトロニクス回路では,回路内部のセンサによって電圧・電流の計測が行われる.現在は主に有線通信を用いて,センサか... [more] CPSY2018-8 DC2018-8
pp.119-124
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-ARC
(連催) [詳細]
2018-06-15
14:20
山形 たかみや瑠璃倶楽リゾート(山形市蔵王温泉) スマートグリッド通信におけるプライバシー保護を考慮した耐k重故障データ集約に関する一考察
斉藤大貴・○小笠原亮太新井雅之日大CPSY2018-9 DC2018-9
 [more] CPSY2018-9 DC2018-9
pp.125-130
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2018-03-08
15:00
島根 隠岐の島文化会館 CANの応答時間解析に関する一考察
佐藤諒平酒井和哉福本 聡大原 衛首都大東京)・新井雅之日大CPSY2017-148 DC2017-104
車載ネットワークプロトコルの業界標準であるCANの応答時間解析については,これまでにも数多くの手法が提案されている.
... [more]
CPSY2017-148 DC2017-104
pp.269-274
DC 2018-02-20
09:30
東京 機械振興会館 2パターンテストにおける重み付き故障カバレージに関する一考察
新井雅之日大)・岩崎一彦首都大東京DC2017-77
半導体製造技術の微細化・高集積化に伴い,欠陥レベルの事前見積り値と実製品に対する値との乖離が問題となっている.著者らは,... [more] DC2017-77
pp.1-6
CPSY, DC, IPSJ-ARC
(連催)
RECONF
(併催) [詳細]
2017-05-24
12:10
北海道 登別温泉第一滝本館 ソフトエラー耐性と性能を考慮したCPUキャッシュメモリ多重化の評価手法に関する一考察
川島直也・○新井雅之日大CPSY2017-15 DC2017-15
 [more] CPSY2017-15 DC2017-15
pp.103-106
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2017-03-10
09:50
沖縄 具志川農村環境改善センター 車載ネットワークCANの解析モデルに関する一考察
佐藤諒平酒井和哉福本 聡首都大東京)・新井雅之日大)・大原 衛首都大東京CPSY2016-145 DC2016-91
近年, 車載ネットワークプロトコルの業界標準であるCANの信頼性が,
インバータの高集積化などに起因する高電磁ノイズの... [more]
CPSY2016-145 DC2016-91
pp.297-301
DC 2017-02-21
10:30
東京 機械振興会館 キャプチャセーフテストベクトルを利用した低消費電力指向テスト生成における動的テスト圧縮法
細川利典平井淳士山崎紘史新井雅之日大DC2016-74
実速度スキャンテストにおいて,キャプチャ動作時の過度な電力消費は回路の熱破壊や誤テストといった深刻な問題を引き起こし,歩... [more] DC2016-74
pp.1-6
DC 2017-02-21
14:25
東京 機械振興会館 到達不能状態を用いたSATベース順序回路のテスト不能故障判定法
二関森人細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大)・四柳浩之橋爪正樹徳島大DC2016-79
スキャン設計回路は,ハードウェアオーバヘッドやテスト実行時間の増加が課題として挙げられている.上述の課題を解決するために... [more] DC2016-79
pp.29-34
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