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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2021-02-05 10:30 |
ONLINE | オンライン開催 | FPGAの配線遅延の影響を考慮した製造ばらつき測定方法の検討 ○堤 信吾・三浦幸也（都立大）  DC2020-69 |
FPGAとはユーザが任意の論理機能を実装できるLSIである．FPGAにおいても製造ばらつきが問題になってきており，これを... [more] | DC2020-69 pp.1-6 |
| DC | 2020-02-26 15:45 |
東京 | 機械振興会館 | FPGAに実装したリング発振器の長時間動作時の周波数変化 ○堤 信吾・三浦幸也（首都大東京） DC2019-95 |
FPGA(Field Programmable Gate Array)とは，ユーザが設計した論理機能を何度も書き換えて実... [more] | DC2019-95 pp.55-60 |
| DC | 2020-02-26 16:35 |
東京 | 機械振興会館 | 耐電源ノイズ用ラッチのソフトエラー耐性 ○木下湧矢・三浦幸也（首都大東京） DC2019-97 |
近年，VLSI回路の微細化や電源電圧の低下に伴い，ソフトエラーによる信頼性の低下が問題となっている．ソフトエラーの影響は... [more] | DC2019-97 pp.67-72 |
| DC | 2019-12-20 16:30 |
和歌山 | 南紀くろしお商工会 | 長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測 ○三宅庸資・加藤隆明・梶原誠司（九工大）・麻生正雄・二見治司・松永恵士（シスウェーブ）・三浦幸也（首都大東京） DC2019-85 |
最先端のVLSIでは経年劣化に起因する故障の増加が懸念されている．回路の劣化による遅延の増加を検出するには，フィールドで... [more] | DC2019-85 pp.37-42 |
| DC | 2019-02-27 15:35 |
東京 | 機械振興会館 | 電源ノイズの影響を考慮したフリップフロップの耐性改善 ○木下湧矢・三浦幸也（首都大東京） DC2018-82 |
近年，VLSI回路の微細化や電源電圧の低下に伴い，IR-dropのような電源ノイズによる回路動作への影響が問題となってい... [more] | DC2018-82 pp.67-72 |
| DC | 2018-02-20 15:30 |
東京 | 機械振興会館 | LUT構造を考慮したFPGAの特性ばらつきの測定方法の検討 ○佐藤晃平・三浦幸也（首都大東京） DC2017-86 |
FPGA(Field Programmable Gate Array)とは，ユーザが任意の論理機能に何度も書き換えて実装... [more] | DC2017-86 pp.55-60 |
| DC | 2018-02-20 16:35 |
東京 | 機械振興会館 | 電源ノイズによるフリップフロップ回路の動作への影響とその対策の提案 ○井上美優紀・三浦幸也（首都大東京） DC2017-88 |
近年，VLSI回路の微細化や電源電圧の低下に伴い，IR-dropのような電源ノイズによる回路動作への影響が問題となってい... [more] | DC2017-88 pp.67-72 |
| DC | 2017-02-21 16:10 |
東京 | 機械振興会館 | FPGAに実装したリングオシレータの特性に関する考察 ○佐藤晃平・三浦幸也（首都大東京） DC2016-82 |
FPGA(Field Programmable Gate Array)とは任意の論理機能を何度も書き換えて実装することが... [more] | DC2016-82 pp.45-52 |
| DC | 2016-02-17 16:05 |
東京 | 機械振興会館 | 電源ノイズによるFF回路の動作への影響に関する研究 ○山本拓弥・三浦幸也（首都大東京） DC2015-96 |
近年，VLSI回路の微細化，低電圧化が進むにつれて，IR-drop のような電源ノイズが論理回路，特にSRAM(stat... [more] | DC2015-96 pp.61-66 |
| DC | 2014-06-20 13:15 |
東京 | 機械振興会館 | バッファ挿入を利用した信号遅延時間計測回路の開発 ○山本拓弥・三浦幸也（首都大東京） DC2014-10 |
VLSI回路の微細化や低電圧化, 高速化がすすむにつれて, 製造ばらつきやトランジスタ劣化による信号遅延への影響が問題と... [more] | DC2014-10 pp.1-6 |
| DC | 2014-06-20 13:40 |
東京 | 機械振興会館 | リング発振器を用いたLSIの劣化推定法 池田龍史・○三浦幸也（首都大東京） DC2014-11 |
ナノスケールのトランジスタではNegative Bias Temperature Instability（NBTI）やP... [more] | DC2014-11 pp.7-14 |
| DC | 2013-06-21 16:30 |
東京 | 機械振興会館 | リング発振器を用いたトランジスタの劣化推定法 ○池田龍史・三浦幸也（首都大東京） DC2013-15 |
ナノスケールのトランジスタではNegative Bias Temperature Instability（NBTI）やP... [more] | DC2013-15 pp.31-36 |
| DC | 2013-02-13 16:15 |
東京 | 機械振興会館 | モニタ回路による製造バラツキを考慮した温度・電圧推定手法 ○三宅庸資・津森 渉・佐藤康夫・梶原誠司（九工大）・三浦幸也（首都大東京） DC2012-89 |
VLSIの微細化に伴い，劣化による回路遅延の増加が問題となっている．劣化による遅延の増加を検出するにはフィールドテストで... [more] | DC2012-89 pp.55-60 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-28 14:30 |
福岡 | 九州大学百年講堂 | フィールドテストのための温度・電圧モニタ回路構成の検討 ○津森 渉・三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司（九工大）・三浦幸也（首都大東京） VLD2012-101 DC2012-67 |
システムの信頼性の確保のために，フィールドでのLSIの劣化による回路遅延の増加を，障害の発生する前に検知する必要がある．... [more] | VLD2012-101 DC2012-67 pp.243-248 |
| DC | 2012-06-22 16:35 |
東京 | 機械振興会館 | リングオシレータ利用モニタ回路によるチップ内温度・電圧の試作評価とフィールドテストへの活用検討 ○三宅庸資・笹川拓麿・佐藤康夫・梶原誠司（九工大）・三浦幸也（首都大東京） DC2012-16 |
VLSIの劣化による回路遅延の増加が問題となっている．フィールドテストで高精度な遅延測定を行いその増加を検出するためには... [more] | DC2012-16 pp.45-50 |
| DC | 2012-02-13 10:00 |
東京 | 機械振興会館 | デュアルエッジトリガフリップフロップの設計と信号遅延検知への応用 ○大川善大・三浦幸也（首都大東京） DC2011-76 |
従来のエッジトリガフリップフロップは単一のクロックエッジに同期してデータ信号を取り込む．このため，エッジの近傍にノイズパ... [more] | DC2011-76 pp.1-6 |
| DC | 2012-02-13 16:20 |
東京 | 機械振興会館 | フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価 ○三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司・宮瀬紘平（九工大/JST）・三浦幸也（首都大東京/JST） DC2011-86 |
VLSIの高機能化や高性能化，製造プロセスの微細化に伴い，劣化等により生じるVLSIの故障を事前に検知し，障害発生による... [more] | DC2011-86 pp.61-66 |
| DC | 2011-02-14 15:40 |
東京 | 機械振興会館 | ノイズパルスを考慮したデュアルエッジトリガフリップフロップの提案 ○三浦幸也（首都大東京） DC2010-68 |
通常のエッジトリガフリップフロップは単一のクロックエッジを使ってデータを取込むため，エッジ近傍にノイズパルスが発生すると... [more] | DC2010-68 pp.57-62 |
| ICD (ワークショップ) |
2010-08-16 - 2010-08-18 |
海外 | ホーチミン市百科大学 | ［招待講演］Circuit Failure Prediction by Field Test (DART) with Delay-Shift Measurement Mechanism ○Yasuo Sato・Seiji Kajihara（Kyusyu Institute of Technology）・Michiko Inoue・Tomokazu Yoneda・Satoshi Ohtake・Hideo Fujiwara（NAIST）・Yukiya Miura（Tokyo Metropolitan Univ.） |
The main task of test had traditionally been screening of ha... [more] | |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2009-12-04 14:25 |
高知 | 高知市文化プラザ | 劣化検知テストにおけるパス選択について ○野田光政（九工大）・梶原誠司・佐藤康夫・宮瀬紘平・温 暁青（九工大/JST）・三浦幸也（首都大東京/JST） VLD2009-65 DC2009-52 |
VLSIの微細化に伴い，経時劣化による故障への対応が重要になってくる．劣化の進行度合いは，同じ回路であっても回路内の箇所... [more] | VLD2009-65 DC2009-52 pp.167-172 |
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