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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| VLD, DC, RECONF, ICD (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2022-11-30 14:20 |
熊本 | 金沢市文化ホール （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
遅延検査容易化設計を用いるPUF回路の周囲温度による動作性能調査 ○大濱瑛祐・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）  VLD2022-46 ICD2022-63 DC2022-62 RECONF2022-69 |
本研究では,遅延検査容易化設計をセキュリティ技術としても機能させることを目的として,遅延検査容易化回路と PUF 回路を... [more] | VLD2022-46 ICD2022-63 DC2022-62 RECONF2022-69 pp.156-161 |
| DC | 2022-03-01 11:20 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
遅延検査容易化回路のPUFへの適用可能性評価 ○大濱瑛祐・知野遥香・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） DC2021-68 |
[more] | DC2021-68 pp.24-29 |
| DC | 2018-02-20 10:35 |
東京 | 機械振興会館 | TDC組込み型バウンダリスキャンにおける遅延付加部のリオーダによる配線長の低減 ○平井智士・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） DC2017-79 |
3次元積層ICにおけるダイ間配線の新しい実装方法として，TSV(Through-Silicon-Via)が注目されている... [more] | DC2017-79 pp.13-18 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2011-11-30 10:30 |
宮崎 | ニューウェルシティ宮崎 | TDCを組み込んだ遅延故障検出用テスト容易化設計について ○槇本浩之・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） VLD2011-84 DC2011-60 |
本研究では，微小遅延欠陥を検出するためにTDC(Time-to-Digital Converter) を組み込んだ遅延故... [more] | VLD2011-84 DC2011-60 pp.185-190 |
| DC | 2010-02-15 16:05 |
東京 | 機械振興会館 | TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討 堤 利幸・○刈谷泰由紀・山崎浩二（明大）・橋爪正樹・四柳浩之（徳島大）・高橋 寛・樋上喜信・高松雄三（愛媛大） DC2009-77 |
LSIの微細化に伴い，LSIテストにおけるオープン故障への対策の重要性が増してきている．しかし，オープン故障の実用的なモ... [more] | DC2009-77 pp.75-80 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2008-11-17 14:15 |
福岡 | 北九州学術研究都市 | TEGチップを用いたオープン故障の解析 堤 利幸・○刈谷泰由紀・山崎浩二（明大）・橋爪正樹・四柳浩之（徳島大）・高橋 寛・樋上喜信・高松雄三（愛媛大） VLD2008-63 DC2008-31 |
半導体技術の高集積化が進みLSIの故障検出や故障診断が難しくなってきている．特に，オープン故障への対策はLSIの微細化に... [more] | VLD2008-63 DC2008-31 pp.19-24 |
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