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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| MVE, IE (共催) CQ (併催) [詳細] |
2011-03-08 16:35 |
長崎 | やすらぎ伊王島 | 通信ネットワークの信頼性評価尺度の検討 ○林 正博（NTT）  CQ2010-84 |
不稼働率は、障害発生回数の多さを表す故障頻度と、障害復旧に要する時間の長さを表すMTTRを乗算した値であり、通信ネットワ... [more] | CQ2010-84 pp.99-104 |
| MI | 2011-01-20 11:30 |
沖縄 | 那覇市ぶんかテンブス館 | ［ポスター講演］5次元濃度超曲面解析と領域拡張による4次元心筋MRタギング画像からのタグ曲面抽出と解析 ○滋野井孝泰・上野智弘・酒井晃二・浦山慎一・福山秀直・東 高志・杉本直三（京大） MI2010-113 |
MRタギング法は対象組織にタグと呼ばれる標識を付け，その動きを追跡することにより観察対象の動きの解析を可能にする撮像法で... [more] | MI2010-113 pp.167-172 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 11:00 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | SRAMコアにおけるオンチップ電源雑音の発生と注入の評価 ○澤田卓也・利川 托・桝井 翼（神戸大）・永田 真（神戸大/JST） CPM2010-125 ICD2010-84 |
SRAMメモリ不良を評価可能なテストチップを試作し，SRAMにおける電源雑音発生を評価，また外乱ノイズを電源へ注入するこ... [more] | CPM2010-125 ICD2010-84 pp.7-12 |
| NS, ICM, CQ (併催) |
2010-11-18 14:30 |
京都 | 京都大学 桂キャンパス | リング系イーサ・ネットワークにおけるサイレント故障検知の一検討 ○中島宣之・藤田 浩・林 經正（クラウド・スコープ・テクノロジーズ） |
近年、Ethernet回線をそのまま利用した広域Ethernetがあらゆる社会サービスに利用されるようになり、高い通信品... [more] | ICM2010-24 pp.1-6 |
| EMD | 2010-11-11 11:00 |
海外 | 西安交通大学（中国、西安） | Failure process and dynamic reliability estimation of sealed relay ○Xuerong Ye・Jie Deng・Qiong Yu・Guofu Zhai（Harbin Inst. of Tech.） EMD2010-76 |
Usually the failure rate of a sealed relay is regarded as a ... [more] | EMD2010-76 pp.41-44 |
| EMD | 2010-11-12 09:00 |
海外 | 西安交通大学（中国、西安） | An Analysis of EM Radiation from Transmission Line with Loose Contact of Connector ○Yu-ichi Hayashi・Takaaki Mizuki・Hideaki Sone（Tohoku Univ.） EMD2010-99 |
[more] | EMD2010-99 pp.133-136 |
| R | 2010-05-28 16:10 |
鳥取 | 放送大学鳥取学習センター（鳥取市） | クラスタシステムに対する多重障害からの回復技術 ～ 歪チェックポイントモデルの厳密解法 ～ ○別所典明・土肥 正（広島大） R2010-15 |
計算機クラスタには複数ノードが存在するため, 各単独ノードに対する障害だけでなく複数ノードに対する多重障害を考慮しなけれ... [more] | R2010-15 pp.49-54 |
| ICD | 2009-12-14 10:50 |
静岡 | 静岡大学（浜松） | ［招待講演］電源雑音とプロセッサ動作エラーのオンチップ評価技術 ○深澤光弥（ルネサステクノロジ）・永田 真（神戸大） ICD2009-77 |
CMOSデジタルLSIの論理動作は電源電圧降下に対し高感度であり，過大な電圧降下は動作エラーを引き起こす．本稿では90-... [more] | ICD2009-77 pp.7-12 |
| LQE | 2009-12-11 11:25 |
東京 | 機械振興会館 地下3階2号室 | OBICモニタを使ったInAs/InP MQW-DFBレーザの安定動作の解析 ○竹下達也・佐藤具就・満原 学・近藤康洋・大橋弘美（NTT） LQE2009-143 |
2.3$\micron$m波長InAs/InP-MQW-DFBレーザで推定寿命$10^5$h以上(@45℃3mW)の長期... [more] | LQE2009-143 pp.25-30 |
| CQ, NS, ICM (併催) |
2009-11-12 14:00 |
石川 | 金沢工業大学 | 通信サービスにおける信頼性評価尺度の検討 ○林 正博（NTT） CQ2009-45 |
不稼働率は、障害発生回数の多さを表す故障頻度と、障害復旧に要する時間の長さを表すMTTRを乗算した値であり、信頼性評価尺... [more] | CQ2009-45 pp.39-44 |
| EMD | 2009-07-17 15:20 |
北海道 | 千歳アルカディア・プラザ | ワイブル分布関数を利用した接触抵抗データ解析の試み ○長谷川 誠（千歳科技大） EMD2009-25 |
接触抵抗測定データの詳細な解析に活用する目的で、ワイブル分布関数による接触抵抗データのあてはめを試みている。その目的のた... [more] | EMD2009-25 pp.25-30 |
| NS | 2009-05-21 16:00 |
広島 | 広島市立大学 | 装置数の増減に対応した故障率推定法 ○船越裕介・松川達哉（NTT） NS2009-17 |
筆者らは，市販装置によって構成されるIP網の，運用中の信頼性管理の重要性を訴求し，実際の故障データを駆使した管理技術の研... [more] | NS2009-17 pp.1-6 |
| MVE, CQ (併催) |
2009-01-16 17:00 |
宮崎 | 宮崎シーガイア | シミュレーション解析に基づくBGP経路障害箇所推定法に関する一検討 ○立花篤男・阿野茂浩（KDDI研）・鶴 正人（九工大） CQ2008-73 |
インタードメインにおけるBGP経路障害は，インターネットの到達性に深刻な影響を与える可能性がある．これに対し，オペレータ... [more] | CQ2008-73 pp.75-80 |
| ICD | 2008-12-11 13:30 |
東京 | 東工大（大岡山）国際交流会館 | ［ポスター講演］デジタルLSIにおける電源ノイズと動作不良の解析手法 ○澤田卓也・永田 真（神戸大） ICD2008-110 |
大規模デジタルLSIにおけるダイナミック電源雑音シミュレーションを行った． シミュレーションには時系列分割寄生容量（T... [more] |
ICD2008-110 pp.47-50 |
| R | 2008-06-20 14:55 |
東京 | 機械振興会館 | LSIの評価・解析を通した品質意識の向上 ～ 大学での試み ～ ○真田 克（高知工科大） R2008-19 |
大学にて学生への品質意識をどこまで向上させることができるか試行錯誤している。当研究室はLSIの故障解析・診断技術を中心と... [more] | R2008-19 pp.25-30 |
| OPE, CPM, R (共催) |
2008-04-18 14:05 |
東京 | 機械振興会館 | 光励起電流モニタを使ったRu添加SIBH-InGaAsP-DFBレーザの摩耗劣化の解析 ○竹下達也・伊賀龍三・須郷 満・近藤康洋（NTT） R2008-3 CPM2008-3 OPE2008-3 |
光励起電流測定法を用い、高温におけるInGaAsP-DFBレーザの劣化姿態が研究された。Ru添加InP SIBHを導入し... [more] | R2008-3 CPM2008-3 OPE2008-3 pp.11-16 |
| EMD, R (共催) |
2008-02-15 10:40 |
京都 | オムロン京都センタービル啓真館 | 簡易ESD装置の開発とその適用検討 ～ ESD破壊現象の特定 ～ ○山崎規雄・真田 克（高知工科大） R2007-59 EMD2007-114 |
ESD耐量の調査と破壊防止を目的とした簡易なESD試験装置を試作した。装置は高電圧供給源とリレースイッチ及び、信号制御回... [more] | R2007-59 EMD2007-114 pp.1-6 |
| NS, ICM, CQ (併催) |
2007-11-16 10:05 |
福岡 | 福岡システムLSI総合開発センター | 最尤分析を用いた派生的障害に対する障害原因分析 ○登内敏夫（NEC） TM2007-39 |
管理業務効率化及び高信頼なシステムの運用を実現するため，障害原因解析・障害対処技術が重要視されている．複数のシステムをネ... [more] | TM2007-39 pp.29-34 |
| R | 2007-09-14 15:00 |
高知 | 高知工科大学 | 電子部品の故障解析および良品解析 ～ 車載用電子部品の信頼性向上のための取り組み ～ ○今井康雄・田中大起（沖エンジニアリング） R2007-35 |
近年，車載用電子部品の重要は急速に高まり，電子部品の高機能・高性能化に伴い最先端プロセスを用いた半導体部品を使用するよう... [more] | R2007-35 pp.35-39 |
| IA | 2006-10-24 11:20 |
東京 | 東京工業大学(大岡山キャンパス) | LSAの広報パターン解析に基づくOSPF障害特定 ○屏 雄一郎・大岸智彦・阿野茂浩（KDDI研） IA2006-27 |
IPネットワークの安定運用のためには，IPネットワークでの経路制御プロトコルの監視が重要である．本稿ではISPや企業内ネ... [more] | IA2006-27 pp.43-48 |
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